金属镀层测厚仪

金属镀层测厚仪采用X-射线荧光方法和*的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。金属镀层测厚仪是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合标准来进行非破坏及不接触的测量。除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量。产品特点：
★ X射线发生系统采用了聚光导管由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。★ 无需液氮的半导体检测器 在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是*的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。★ 能谱匹配软件，可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。★ 块体检量线软件（适用于电镀液分析） 可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。★ 绘图软件（选配件） 将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。★ 电镀液容器（选配件）★ 各种标准物质（选配件）你的需求，便是我们的追求，期待您的来电，金霖电子 吴    ：29371653     地址：宝安中心区宏发中心大厦