X-RAY膜厚仪

x-ray膜厚测试仪是一款应用广泛的能量色散型X射线光谱仪.适合无损测量薄镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板，x-ray膜厚测试仪采用全新数学计算方法,采用的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。

x-ray膜厚测试仪能够有效并精确的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

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