武汉电子器件温度循环冲击试验箱

一、特点

1、武汉电子器件温度循环冲击试验箱分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区*静止，采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用；    
2、可由测试孔外加负载配线测试部件；    
3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然；    
4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统；    
5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷；    
6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能；    
7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能；    
8、可设定循环次数及除霜次数，自动（手动）除霜；    
9、采用日本OYO控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。   

二、试验箱结构

1、试验箱结构形式：试验箱采用整体式组合结构形式，既试验箱由位于后下部的高温试验箱，位于后上部的低温试验箱体位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜（系统）所组成。此方式箱体占地面积小,结构紧凑、外形美观，制冷机组置于独立的机组箱体内。

2、箱体外材料：冷轧板防静电喷塑烤漆处理／SUS304不锈钢板 

3、箱体内材料：SUS304镜面不锈钢板／SUS304不锈钢板

4、保温材料：硬质发泡１级 

5、电缆穿线孔：在样品架的上部与高温试验箱体顶部设置有滑动式电缆穿线管。

6、样品架承重：≥3Kｇ.

三、武汉电子器件温度循环冲击试验箱满足标准

1. GB10589-89 低温试验箱技术条件

2. GB11158-89 高温试验箱技术条件

3. GB10592-89 高低温试验箱技术条件

4. GB2423.1 低温试验、试验A

5. GB2423.2 高温试验、试验B

6. GB2423.22 温度变化试验、试验N

7. IEC68-2-14 试验N

8. GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法

9. GB2423.2-89 电工电子产品基本试验规程试验B:高温试验方法

四、技术参数

1、温度范围：-20℃/-40℃/-55℃/-65℃～+150℃ 

2、温度上限：+170℃ 

3、温度下限：-70℃ 

4、温度偏差：±2℃ 

5、温度波动度：±0.5℃ 

6、温度恢复时间：5min 

7、温度恢复条件：高温+150℃保温≥30min低温-40℃保温≥30min.

8、试品转移方式：采用气动 

9、试品重量：≤3kg 

10、高温室升温时间：30min （+25℃～+170℃） 

11、低温室降温时间：65min （+25℃～-55℃） 

12、噪音：（dB）≤65 

13、电源：AC380V±10％/50/60Hz+保护接地 

14、总功率：7KW