武汉线速连接器高低温冲击试验箱

一、武汉线速连接器高低温冲击试验箱性能指标

1、温度范围: A:-40℃～150℃ B:-55℃～150℃ C:-65℃～150℃
2、温度波动: 高温室及低温室均≤±2℃
3、温度波动: ≤±0.5℃（恒温时）
4、样品承重: 20KG; 30KG; 50KG; 60KG
5、低温区、高温区转换时间小于等于15秒。
6、温度恢复时间小于等于5分钟。

二、武汉线速连接器高低温冲击试验箱运行控制系统:
1、控制器: 采用进口LED数显（P、I、D S、S、R.）微电脑集成控制器
2、精度范围: 设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃
3、制冷系统: 进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组，原装法国“泰康”全封闭风冷复迭压缩制冷方式
4、循环系统: 耐温低噪音空调型电机，多叶式离心风轮
5、温度转换时间: 从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S
6、温度恢复时间: ≤5min（与温度恢复条件有关，即冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）温度冲击方法: 垂直两箱法/垂直三箱法 （两箱式冷热冲击试验箱/三箱式冷热冲击试验箱）

三、用途介绍

   三箱式温度循环冲击试验箱又名冷热冲击试验箱、高低温冲击试验机，主要用于测试零部件、材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在zui短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

   温度循环冲击试验箱适用于质量控制的实验室，确定电工电子产品在贮存、运输和使用期间可能遇到的温度迅速变化的条件下的适应性，又可满足生产过程中筛选商用产品。适用的对象包括金属，塑料，橡胶，电子、LED、LCD、通讯组件、汽车配件、化学材料、航天、国防工业、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料等行业，可作为其产品改进的依据或参考。

四、满足与执行标准

GB/T2423.1-1989 电工电子产品基本试验规程试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-1989电工电子产品基本试验规程试验B：高温试验方法

GJB360.7-87 温度冲击试验

SJ/T10187-91Y73 系列温度变化试验箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 电子冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验箱，电子产品冷热冲击试验机