超高分辨率荧光显微镜

SIM（Structured Illumination Microscopy）结构照明型超高分辨率显微镜以激光干涉条纹照明为基础，通过高灵敏度相机采集莫尔条纹图像，通过傅立叶变换方式重构超分辨率图像。

Ø  光学显微镜的分辨率极限本质上的原因是“高空间频率的发光点通过衍射发生干扰，其一级衍射信息不能被物镜收集，从而导致高空间频率信息的丢失”，所以常规方式下，图像检测器相对于高空间频率的发光信息处于一种“散光”状态（如同人眼散光的效果），“看不清”小于200nm的微细结构，这就是阿贝衍射极限理论。SIM显微镜可以条纹照明突破衍射极限，使成像的横向分辨率达到100nm左右，纵向分辨率达到300nm左右。

超高分辨率荧光显微镜

Ø  尼康N-SIM超高分辨率显微镜以旗舰级倒置显微镜Ti-E为基础，引入2D-SIM、TIRF-SIM、3D-SIM三种结构照明方式，实现了三种方式下的超分辨率荧光成像。N-SIM显微镜的横向和纵向分辨率均达到了传统显微镜的两倍！TIRF-SIM更实现了Z轴上100nm的“光切”效果！

Ø  N-SIM获得了2011年生物仪器“TOP”之一的殊荣，生物影像技术的前沿应用。

超高分辨率荧光显微镜主要应用：精细荧光共定位、细胞器生物学、细胞骨架等。