一、芯片推力测试仪技术参数:
1.型号:LYD220
2.试验力选择:500N、1kN、2kN、5kN;
3.传感器精度等级:0.02%;
4.设备精度等级:0.5级;
5.试验力测量范围:0.4%--*FS;
6.试验力示值误差:≤示值的±0.5%;
7.力分辨率:≥1/500000FS;
8.位移示值误差:≤示值的±0.5%;
9.试验速度范围:0.001mm/min--500mm/min(任意调);
10.安全保护装置:电子限位保护、紧急停止键和软件过载自动保护;
11.试验夹具装置:拉拔夹具、剪切夹具、推力夹具(可选)
12.有效试验宽度:400、560mm或定做;
13、有效拉伸试验行程:800mm;
14、主机尺寸:800×420×1800mm;
15、主机重量:约320Kg。
16.可拓展配置:电子引伸计,大变形(旋转式或固定式),高低温箱;