Ø 用途:
采用线扫或者面阵检测方案:印刷品、电子、元器件外观检测及测量,如完整性、缺陷、色差、尺寸偏差、破裂、划痕等;零部件的正反判别、特征识别;手机盖板、玻璃制品、光学镜头、陶瓷薄膜的瑕疵检测,如裂痕、污点、刮伤等。
Ø 性能:
结合特征识别和深度学习算法采用大靶面面阵机或者线扫相机
速度小于200ms
检测速度3600pcs/h
检测精度小于20um/pixel
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