FISCHERSCOPE X-RAY250 荧光X射线测量仪器

产品描述

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能，紧凑型且通用的X射线测量仪器，非常适合无损涂层厚度测量和材料分析。XAN 250和XAN 252仪器特别适合于测量和分析薄涂层，即使其成分非常复杂或浓度很小。高性能X射线荧光测量仪，用于快速无损材料分析和涂层厚度测量。高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250，高性能X射线荧光测量仪，配有**进的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。

主要特点：

     ▪ 高性能机型，具有强大的综合测量能力
     ▪ 配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
     ▪ 配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析
     ▪ 由下至上的测量方向，可以非常简便地实现样品定位

     ▪ 高性能X射线荧光测量仪X-RAY XAN250

典型应用领域：

     ▪ 对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
     ▪ 对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量
     ▪ 在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析

     ▪ 用于高校研究和工业研发领域 

规格参数：

预期用途	能量色散X射线荧光测量仪（EDXRF）用于测量薄涂层，痕量元素和合金
元素范围	铝（13）到铀（92）–同时*多24个元素
测量方向	自下而上
X射线探测器	硅漂移检测器（SDD）
分辨率(fwhm for Mn-Kα）	≤ 160 eV
测量点	Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放样品（测量距离0毫米）
测量距离	0…25毫米（0…1英寸）
样品定位	手动
缩放系数	Digital 1x, 2x, 3x, 4x
*大样品重量	13 kg (29 lb)
电源	AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
外形尺寸	403 x 588 x 365 mm