TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪

美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 产品特点：

·        0.5微米时粒径分辨率小于5%

·        粒径通道用户可调

·        检测粒径范围：0.3-10微米，最多16通道

·        颗粒物粒径感应范围：0.5至25mm

·        检测浓度范围：0-3000 个/cm3

·        彩色触摸屏，直观的用户界面

·        *ISO 21501-01/04要求

·        输入折射率和密度可以同时显示颗粒物数浓度和质量浓度

·        收集的采样膜可进行称重测量和化学分析

·        电池电量可供20小时的操作

·        最多可存储30000个数据

·        记录每个样品的温度和压力

美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 技术参数

测量原则 ：
120°光散射和滤膜采样
浓度限制：
3,000个/cm3 （3,000,000个/L）
质量浓度 ：
0.001-275,000 mg/m3
颗粒物粒径：
检测粒径范围：0.3-10 mm
粒径分辨率：0.5mm时5%（符合ISO 21501-01/04）
粒径通道 ：最多16通道，用户可调