JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

JEM-ARM300F实现了高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了高的STEM-HAADF像分辨率。

·实现了高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率

·JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了高的STEM-HAADF像分辨率。

·STEM-HAADF像的保证分辨率达到了的58pm

·采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达58pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。

·ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器　※选配件

·ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。

·强大的冷场发射电子枪HyperCF300

·标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。

·两种物镜极靴

·为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。

·丰富的选购件

·能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。

·大范围的加速电压设置

·标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围极广。

·新开发的真空系统

·新的排气系统达到了的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，限度地减轻了对样品的污染和损伤。

·高稳定的镜筒和样品台

·整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗力提高到新高度。

                                                                                                                      分辨率                                               300 kV，80 kV