MiniSIMS二次离子质谱仪

详细内容

SIMS个主要的特征是对表面（固定SIMS）的固定区域的原位分析。扫描聚焦探测光束（影像SIMS）生成个表面成分图仅需几钟（而不是几分钟）。延展的分析通过深度刻蚀表面而显示表层下面变化的组成（动态SIMS）。所有这些能在只需少量而不需任何样品准备的情形下操作成功，并且具有高灵敏度，同时可使分析时间降至短。

Millbrook MiniSIMS是在个紧凑的半开式可移动中开发的SIMS功能技术。仅需个标准的主电源以供操作，放置为方便。的计算机控制使得操作简便，并且自动获得数据。通过英特网的远距离控制使您使用SIMS更为方便。

MiniSIMS使得室内表面分析仪器，在很大范围的情形下成为种操作简便经济实用的方式，低成本的资金和维护费用以及高的样品产出，意味着每个样品的总费用要比使用传统的SIMS仪器减少90%

二次质谱仪（SIMS）是沿的表面分析技术。确立于40多年，它揭示了表面和近表面的原子层的化学组成。这种信息远远超过了为鉴定有机组成部分的分子结构所需的简单元素分析。

应用：

单分子层水平表面信息　　薄膜纵剖面分析

所有元素检测　　　　　　有机物质鉴定

表面污染鉴定 高灵敏度分析

快速化学组分成像等表面分析域