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Sigma 500 场发射扫描电子显微镜

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  • 公司名称上海拓普思科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号Sigma500
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/11/23 11:04:33
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上海拓普思科技有限公司(The TOPS Lab System)是以材料检测方案解决为宗旨,集材料检测仪器的销售、实验室建设和技术咨询服务为一体的实验室检测专业服务机构。TOPS提供专业的材料检测实验室建设和技术咨询服务,在汽车、航天航空、电子电器、电力、钢铁、机械、能源、交通等行业,在金属材料、塑胶材料、涂装、汽车零部件、汽车曲轴、新能源电池、PCB板、半导体、石油管道、压力容器、电站管道、紧固件、铸造件、热处理件、轴承等生产和检测领域中提供专业的实验室设计及建设服务、实验室质量管理咨询服务、国家实验室认可咨询服务、实验室管理系统的建立和改进服务以及材料检测技术培训服务等,并为广大实验室工作者提供一个良好的管理和技术沟通平台。TOPS是专业的材料检测仪器代理商,是德国Spectro光谱仪、美国BUEHLER金相设备、美国WILSON硬度计、瑞士ERNST硬度计、美国G&R硬度计、美国INSTRON试验机、德国Leica材料显微镜、德国ELTRA气体分析仪、德国SPECTRUMA辉光光谱仪、美国Q-LAB耐候老化设备、美国TA热分析仪等众多品牌产品的代理商,并是其中多数品牌的区域或行业总代理。TOPS也是专业的材料检测仪器集成商,有着超过二十年的专业材料检测技术背境,可为金属材料和高分子材料在化学性能、物理性能和耐候老化性能检测上提供全套的检测仪器和解决方案。公司还可以提相关配套检测仪器和试样加工设备,为客户提供一站式的专业便捷服务。公司一直以专业的技术服务和优质的售后服务为理念,并赢得了广大客户的信赖。TOPS期待与您共创实验室美好明天!
辉光放电光谱仪
Sigma 500 场发射扫描电子显微镜
Sigma 500 场发射扫描电子显微镜 产品信息

Sigma 500 场发射扫描电子显微镜

用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜

灵活的探测,4步工作流程,高级的分析性能

将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合,利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选:用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间:设置成像与分析步骤,提高效率。 Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有的背散射几何探测器,可快速方便地实现基础分析。任何时间,任何样品均可获得精准可重复的分析结果。

用于清晰成像的灵活探测

  • 利用*探测术为您的需求定制 Sigma,表征所有样品。
  • 利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。
  • 利用新一代的二次探测器,获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器,在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。
纤维,在伤口护理中敷的抗菌药

自动化加速工作流程

  • 4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中,从快速成像和节省培训首先,先对样品进行导航,然后设置成像条件。
  • 首先,先对样品进行导航,然后设置成像条件。
  • 接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的步,将结果可视化。
Sigma 的 4 步工作流程节省大量的时间

高级分析型显微镜

  • 将扫描电子显微镜与基本分析相结合:Sigma 的背散射几何探测器大大提升了分析性能,特别是对电子束敏感的样品。
  • 在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。
  • 获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角,获取完整且无阴影的分析结果。
使用顶级的 EDS 几何探测器加速 X 射线分析

基于成熟的 Gemini 技术

  • Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响,并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。
  • Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率,通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。
  • Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。
Gemini 镜筒的横截面示意图  

用于清晰成像的灵活探测

  • 利用新的探测技术表征所有的样品。
  • 在高真空模式下利用创新的 ETSE 和 in-lens 探测器获取形貌和高分辨率的信息。
  • 在可变压力模式下利用可变压力二次电子和 C2D 探测器获取锐利的图像。
  • 利用 aSTEM 探测器生成高分率透射图像。
  • 利用 BSD 或者 YAG 探测器进行成份分析。
Gemini 镜筒和探测器的横截面示意图

配件

SmartEDX
为您带来一体化能谱分析解决方案
如果单采用SEM成像技术无法全面了解部件或样品,研究人员就需要在SEM中采用能谱仪(EDS)来进行显微分析。通过针对低电压应用而优化的能谱解决方案,您可以获得元素化学成分的空间分布信息。得益于:
  • 优化了常规的显微分析应用,并且由于氮化硅窗口优秀的透过率,可以探测轻元素的低能X射线。
  • 工作流程引导的图形用户界面极大地改善了易用性,以及多用户环境中的重复性。
  • 完整的服务和系统支持,由蔡司工程师为您的安装、预防性维护及保修提供一站式服务。
smart-edx_system        
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