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山东瑞祥探伤仪试块超声波试块 CSK-IA探头校准试块

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公司名称亚测（上海）仪器科技有限公司
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厂商性质其他
更新时间2023/1/6 9:34:18
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公司介绍主营产品

亚测（上海）仪器科技有限公司是一家集研制、开发、生产和销售为一体专业化仪器设备公司，总部位于中国经济中心上海，作为一家以科技为本的技术公司，拥有国内外行业内研发人员10多人，其中具有博士学位的1人，研究生5人，具有中级以上职称8人。公司集合了国内外（包括美国GE等）的检测技术，拥有进的探伤检测技术及设备，以德国检测技术为基础研发出多款功能强大、性能稳定的高性能探伤仪、测厚仪、硬度计等一批专业性的检测设备。公司自成立之初，就本着“科技为本，立足市场”的指导方针，与清华大学、南京航空航天大学、南京理工大学等国内多所名校的实验室保持长期的合作关系，从而使公司的产品一直保持的技术水平；并在生产技术、应用软件、数据通信、应用领域以及产品定型等方面狠下功夫，公司拥有的CUT系列全数字超声波探伤仪、TT系列超声波测厚仪、TT系列涂层测厚仪以及TH系列里氏硬度计为代表的高精度功能型检测仪器先后通过国家、省、市质量技术监督部门组织的专家鉴定，在同行业里赶超了世界水平，并跻身于国内外无损检测界前列。并取得了自主知识产权。专业的技术生产，高科技的设备，高素质的人才，开启了亚测（上海）仪器科技有限公司销售业绩一次次的增长。在经营过程中以优良的职业道德、良好的商业信誉、高质量的产品、完善的售后服务赢得了广大用户的信赖和支持。经过多年的努力，已占据了很大的。年产值三千多万，为企业及市场带来了良好经济效益。已成为国内的全数字智能超声波探伤仪等检测仪器的研究、制造和经销实体。公司更注重用户个性化的需求，力求以高质量、高性价比和完善的售后服务参与有序的市场竞争，愿与无损检测界的同仁进行广泛的交流与合作，从而达到与时俱进、共同发展的宏伟目标。感谢新老客户的惠顾与垂询，让亚测科技为您架起一道彩虹，使我们之间永恒的诚信、友谊与进步更加绚丽，携手共创无损检测事业美好的明天。

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山东瑞祥探伤仪试块无损检测试块CSK-IA探头校准试块CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用50和1

山东瑞祥探伤仪试块超声波试块 CSK-IA探头校准试块产品信息

山东瑞祥探伤仪试块无损检测试块 CSK-IA探头校准试块

CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。

CSK-IA 试块是我国承压设备无损检测标准 NB/T47013 中规定的标准试块。

CSK-IA 试块使用说明及测试方法

水平线性(时基线性)的检验

水平线性又称时基线性，或扫描线性。是指输入到超声检测仪中的不同回波的时间间隔与超声检测仪显示屏时基线上回波的间隔成正比关系的程度。水平线性影响缺陷位置确定的准确度。水平线性的测试可利用任何表面光滑、厚度适当，并具有两个相互平行的大平面的试块，用纵波直探头获得多次回波，并将规定次数的两个回波调整到与两端的规定刻度线对齐，之后，观察其他的反射回波位置与水平刻度线相重合的情况。其测试步骤如下:

(1)将直探头置于 CSK-IA 试块上，对准 25mm 厚的大平底面，如图 a 所示

(2)调整微调、水平或脉冲移位等旋钮，使示波屏上出现五次底波 B1 到 B5，且使 B1 对准 2.0，B5 对准10.0，如图 b 所示

(3)观察和记录 B2、B3、B4 与水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差值 a2、a3、a4。

(4)计算水平误差:公式

式中，amax——a2，a3，a4 中者 b——示波屏水平满刻度值

纵波探测范围和扫描速度的调整

在利用纵波探伤时，可以利用试块的已知厚度来调整探测范围和扫描速度，此过程我往往和检验时基线性同步进行。当探测范围在 250mm 以内时，可将探头置于 25mm 厚的大平底上，使四次底部回波位于刻度四，十次底部回拨位于刻度十，则刻度十就代表实际探测声程为 250mm。当探测声程范围大于 250mm 时，可将探头置于如图的 B 或C 处，使各次底波位于相应的刻度处，此时起始零点亦同时得到修正。

调整横波扫描速度和探测范围

由于纵波的声程 91mm 相当于横波声程 50mm，因此可以利用试块上 91mm 来调整横波的检测范围和扫描速度。例如横波 1:1，先用直探头对准 91 底面，是 B1、B2 分别对准 50、100，然后换上横波探头并对准 R100 圆弧面，找到回波，并调至 100 即可。

测定仪器与直探头远场分辨力

(1)抑制旋钮调至“0”，探头置于如图所示位置，左右移动探头，使显示屏上出现 85、91、100 三个反射回波A、B、C 如图所示，则波峰和波谷的分贝差 20Lg(a/b) 表示分辨力。

(2)NB/T47013-2015 中规定，直探头远场分辨力大于等于 20dB。

测定仪器与斜探头的分辨力

(1)探头置于如图所示位置，对准 50mm、44mm、40mm 阶梯孔，使示波屏上出现三个反射波。

(2)平行移动探头并调节仪器，使 50mm、44mm 回波等高，如图所示，其波峰和波谷分别为 h1、h2，其分辨力为

X = 20Lgh1/h2(dB)
NB/T47013-2015 中规定，斜探头的远场分辨力大于等于 12 分贝。

测定斜探头入射点

将探头置于图示位置，向 R100mm 的圆弧发射超声波，前后移动探头，直到 R100mm 圆弧面反射波达到点，此时与 CSK-1A 试块侧面标线中心点“0”相对应的探头契块那一点即为探头入射点。

测定斜探头K值

根据探头折射角的大小，将探头置于试块的不同位置进行测量，如图所示。波形图同于入射点波形图。

测量时，探头应放正使波束中心线与试块侧面平行，前后移动探头，找到 50mm 孔或 1.5mm 孔的反射波。此时，声束中心线必然与入射点和圆心之间的连线相重合，即声束中心线垂直于孔表面。这时，试块上与入射点相应的角度线所标的值即为该斜探头的 K 值。

垂直线性的检验

将探伤仪的抑制和补偿旋钮置于“0”或“关”用直探头放置在图中 A 或 B 位置。并保证探头与试块之间有良好的声耦合。

调整衰减器使试块底波高度为荧光屏的满刻度，此时必须有 30 分贝的衰减量。然后每衰减 2 分贝用百分率读出反射波高度，直到 26 分贝，在判断 30 分贝时反射波是否存在，将结果记录表中。评定垂直线性时，以反射波高度的理想波高为基准，以测试值与基准值的正偏差(+d)及负偏差(-d)之和来判定垂直线性。

D= +d|+|-d|]×%

盲区的估计

盲区是指最小的探测距离，测试方法是:将直探头置于探头位置图中 D、 E 位置，测量 50mm 圆孔反射波。从而可以估计出盲区小于等于 5mm 或大于等于 10mm，或者介于两者之间。

穿透能力估计

将直探头置于探头位置图中 F 位置，将仪器个灵敏度旋钮均置于，测试试块中有机玻璃块反射波次数和次反射波高度。以此来估计穿透力，借以比较探伤仪器及探头组合性能随时间变化的情况。

探测灵敏度的调整

根据 AVG 原理，在探头探伤时可把 R100mm 圆弧面视为大平底反射，以此来调整探测灵敏度。直探头探伤时可把厚度为 25/100mm 的几个侧面视为大平底处理，以此来调整灵敏度。另外，也可以根据探伤要求，仪测量 1.5mm横通孔反射波来确定灵敏度。

测定斜探头声束轴线偏离

在 CSK-IA 试块上厚 25mm 的平面上，使声束指向棱边，对于 K 值小于等于 1 的探头，声束经底面反射指向上棱角;K 值大于 1 的声束指向下棱角，前后左右摆动探头，使所测棱边端角回波幅度，固定探头不动，然后用量角器或适当的方法测量斜探头几何中心声束轴线与棱边法线的夹角(例如测量探头斜面与试块端面垂直线的夹角)，即为声束轴线偏斜角。应当注意:斜探头的声束扩散角较大时，可能影响到回波的探测，以致可能产生较大的测量误差。