牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器和光纤板光学系统,集高速、高灵敏度和高衍射花样质量于一体的强大组合。Symmetry S2与AZtec软件相结合,为所有材料和所有测量提供优越的性能。Symmetry S2的分析速度超过4500 pps,可在几秒钟内实现织构和晶粒度表征,而这是在不需要高束流或牺牲花样分辨率的条件下实现的。这意味着,即使对难做样品,如多相轻合金或变形钢,也可以实现高速及高质量的分析。
此外,Symmetry S2可以采集无畸变、百万像素分辨率的EBSD花样,用于精细的应变和相分析。软件控制探头倾转(自动动态校准)和接近报警等创新功能,使Symmetry S2成为一款适合所有应用的探测器。
当无需在速度和精度间做选择时,型Symmetry S2可以轻松满足所有应用需要。
牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器Symmetry S2特点
Symmetry S2探测器性能出色,使用方便,是所有EBSD应用的理想探测器:
- 保证标定速度 > 4500点/秒(pps)
- 光纤板光学系统带来优异的灵敏度
- 高灵敏度 > 800 pps/nA
- 速度时花样分辨率为156 x 88 像素
- 百万像素全分辨率(1244 x 1024)花样——理想的高角度分辨率(HR)-EBSD应变分析
- 亚像素畸变,保证角度精度优于0.05°
- 软件控制倾转接口,且自动校准——为所有大小的样品和几何设置提供理想的定位和标定
- 接近报警——提前探测可能发生的碰撞,并自动移动探测器至安全位置
- 五个集成的前散射探测器(FSD,选配), 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像
- 波纹管SEM接口,保持显微镜真空的完整性
- 简单直观的探测器设置,确保每次都能获得优异的结果
牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器Symmetry S2应用
Symmetry S2集极速、灵敏度和多功能于一体,是一款能够覆盖所有应用领域的型EBSD探测器。这包括:
- 标准金属和合金样品的常规分析
- 深入检查应变和变形
- 复杂或束流敏感样品的有效表征
- 优化大样品测量
- 纳米晶材料的透射菊池衍射(TKD)分析
材料性能的快速质量控制
- Symmetry S2的分析速度 >4500 pps,可在若干秒钟内测量样品关键性能
- 依据ASTM E2627标准分析双相不锈钢的晶粒度,晶粒数量 >2000个,时间<80秒。
- 同样,织构和相分数的快速表征使得Symmetry S2非常适合于质量控制和高产量应用
- 仅使用中等束流(4 nA)即可对各种材料完成高速分析
敏感样品的高速分析
- Symmetry S2探测器内的光纤板光学系统提供了优异的灵敏度,不仅确保来自束流敏感材料的出色数据,而且对所有样品类型都有性能优势
- 对石英(SiO2)矿物样品,仅使用中等束流以1900 pps的速度在12分钟内完成准确相分析
- Symmetry S2的灵敏度确保您可以在所有应用中利用探测器的高速度,短时间内完成大量样品的检测
应变样品的详细分析
- 为了有效地表征应变,具有百万像素分辨率和最小畸变的探测器至关重要
- Symmetry S2是一款能满足这些标准的探测器——全1244 x 1024像素衍射花样是高角度分辨率(HR)EBSD的理想选择,每个探测器都能保证亚像素畸变
- 本例显示了高质量的EBSD花样与AZtec的高精度标定模式如何描述应变镍样品中的位错胞
分析任意大小的样品
- 使用传统EBSD探测器很难分析大样品,因为它们需要在SEM的长工作距离(WD)下进行分析,这会损害标准EBSD几何位置
- Symmetry S2有软件控制倾斜,可为每种样品类型定位于其理想的几何位置,从TEM薄片到厘米尺度样品(如原位测试样品或地质薄片)
- 该面分布图显示了来自大型力学测试的Ti64合金样品的EBSD数据,晶粒取向数据用于计算加载方向的杨氏模量
行业 | 材料 | 典型的EBSD测量 |
金属研究和加工 | 金属,合金 | 晶粒尺寸 |
航天 | 金属间化合物 | 晶界表征 |
汽车 | 夹杂物/沉淀物/第二相 | 体织构 |
核能 | 陶瓷 | 局部织构 |
微电子 | 薄膜 | CSL晶界表征 |
地球科学 | 太阳能电池 | 再结晶或形变率 |
科研领域 | 地质 | 亚结构分析 |
半导体 | 相鉴定 | |
超导体 | 相分数和相分布 | |
冰 | 相变 | |
金属和陶瓷复合材料 | 断口分析 | |
骨头,牙齿 | 晶粒和相间的取向与取向差关系 |