高达 50% at 5 V excess bias (VEX)
• 超高的时间精度
< 60 ps FWHM
• 80 MHz 门控频率
可调门控宽度
• 的可编程模块
门控宽度, 门控重频, 死时间
SPAD 过量偏压和温度
• 时间分辨光谱
• 脑功能成像
• 光学分子成像
• 门控 STED
• FLIM - 荧光寿命成像
• FCS - 荧光相关光谱
• DOT - 漫射光学层析成像
工业应用
• 光学集成电路测试
• 飞行时间测试
• 纤维光学特性
• OTDR – 光时域反射
• LIDAR 和测距
量子学应用
• 量子密码
• 量子光学
• 单光子源特性
参数 | 说明 | 最小 | 典型 |
| 单位 |
有效面积直径 |
|
| 50 |
| µm |
光子探测效率 | @ 400 nm |
| 50 |
| % |
@ 600 nm |
| 20 |
| % | |
@ 800 nm |
| 5 |
| % | |
DCR | At VEX = 5 V and T = 25 °C |
| < 200 |
| counts/s |
单光子定时抖动 (FWHM) | At VEX = 5 V |
| < 60 |
| ps |
At VEX = 7 V |
| < 50 |
| ps | |
偏压范围 |
| 3 |
| 7 | V |
SPAD 温度 | SW selectable | -10 |
| 30 | °C |
关闭等待时间 | SW selectable @ 6 ns step | 48 |
| 1000 | ns |
Accuracy | ± max (3 ns, 3%) |
| |||
门控上升时间 | (20% - 80%) |
| < 300 |
| ps |
门控宽度 | SW selectable @ 40 ps step | 2 |
| 10 | ns |
SW selectable @ 2 ns step | 10 |
| 500 | ns | |
门控重复频率 | External trigger (if TON ≤ 10 ns) | DC |
| 80 | MHz |
External trigger (if TON > 10 ns) | DC |
| 25 | MHz | |
Internal trigger | 0.0002 |
| 80 | MHz | |
光子输出 | NIM output | -800 |
| 0 | mV |
Required Load (DC) |
| 50 |
| Ω | |
触发输入 | Amplitude | -2 |
| 2.5 | V |
Threshold (SW selectable 18 mV step) | -2 |
| 2.5 | V | |
Load Impedance (DC) |
| 50 |
| Ω | |
Impulse width | 2 |
|
| ns | |
触发输出 有效门控 | Output levels (± 400 mV) | 0 |
| 2.9 | V |
Required Load (DC) |
| 50 |
| Ω | |
电压 |
| 100 - 240 VAC @ 50 - 60 Hz | |||
输入方式 |
| Free space or Fiber connectorized | |||
系统需求 |
| USB port and Microsoft Windows® OS |
订购信息
标准的FastGatedSPAD模块通常与以下部件一起提供
· 控制单元
· 探测头(光纤尾纤或加窗)
· 控制单元到检测头的橙色宽带电缆
· USB密钥包含安装软件和PDF® 格式的用户手册
· SPAD测试报告
· 光学通用适配器