波长色散型X射线荧光光谱仪XRF-1800型

在波长色散型装置中，世界250μm微区分布成像分析功能（已取得）

可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。

稀土元素矿石的XRF-1800成像分析实例

利用高次谱线进行准确的定性/定量分析（申请中）

高次谱线的判定更加准确，提高了定性定量分析的准确度/可靠性。

利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例

测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法

  利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢（H）元 素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜 的信息。

使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例

微区分析结构
   独自开发的特殊形状的滑动式视野限制光栏，利用r方向滑动与样品旋转控制的q转动，可以在30mm直径内的任意位置进行分析。 

· 利用CCD相机可以直接观察样品（选配件）
   在测定室导入样品的位置上，将样品容器按照与测定位置相同的方式放置，通过CCD摄取

样品的图像，可使测定位置与图像相吻合。
   （申请中） 

· 配备高可靠性、长寿命的4kW薄窗Ｘ射线管
   配备平均寿命在5年以上的高可靠性Ｘ射线管。与传统的3kWＸ射线管相比，轻元素的分析灵敏度提高2倍以上。

· 集成岛津技能精华的模块功能,匹配分析功能
   对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件，在这基础上可编制的分析条件。可根据不同材质
   判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。