铁素体/涂镀层厚度/电导率/印刷线路板上铜层等综合测量仪

使用一台仪器就可同时完成镀层厚度测量和材料性能测试。FISCHERSCOPE^® MMS^® PC2具有数据采集和测量数据处理能力，是一台结构小巧且适用范围广泛的多功能桌上测量系统。它既可以用来进行手动的样品来料检验，也可以用于过程控制和对产品线进行24小时地监控。有为不同样品几何形状和测量范围而设计的各式各样的探头可供选择。

我们还设计了众多不同的插件模块实现仪器各种功能以满足用户的需要。模块设计也使得仪器的升级可以随时随地地进行。视实际需要，可以安装类似或不同的模块。

配置举例：
如在印制线路板生产中的镀层测厚领域，可以在FISCHERSCOPE^® MMS^® PC2主机中安装模块BETASCOPE^®, SIGMASCOPE^®/PHASCOPE^®, SR-SCOPE^® 和PERMASCOPE^®。这样的仪器配置可以完成以下功能和应用：
 

• 纳米薄膜（抗指纹膜）， 太阳能电池薄膜（玻璃上的CdTe层）接插件上的金镀层，焊盘焊带上的锡铅合金镀层以及光阻涂层（模块 BETASCOPE^®)。
   
• 在贯穿孔中表面覆铜和镀铜的厚度测量 (MASCOPE^®/PHASCOPE^®)，不受背面铜层影响的多层板上的铜厚测量 (SR-SCOPE^®)。铜上阻焊层的厚度(PERMASCOPE^®)
   

在汽车配套工业领域的应用。包含了PERMASCOPE^® 模块, NICKELSCOPE^® 模块以及BETASCOPE^® 模块的FISCHERSCOPE^® MMS^® PC2 可用于以下镀层厚度的测量需要：

• 活塞表面的石墨涂层或是在刹车片上的抗腐蚀涂层(PERMASCOPE^®)。

• 活塞表面的铁质涂层。
   

我们提供一系列插入式测试模块使其具有*大的灵活性

• Module PERMASCOPE^®
   
• Module NICKELSCOPE^®
   
• Module BETASCOPE^®
   
• Module SR-SCOPE^®
   
• Module SIGMASCOPE^®-PHASCOPE^® 1/TEMPERATURE
   
• Module SIGMASCOPE^®-PHASCOPE^® 2
   
• Module PHASCOPE^® DUPLEX
   
• Module TEMPERATURE
  
   

友好的用户界面

FISCHERSCOPE^® MMS^®PC2配有大尺寸、高分辨的彩色液晶触摸屏。触摸屏能快速而高效地帮助您完成测量数据的采集、存储、评估及文件报告。仪器使用 基于Windows? CE操作系统的测量软件，与 Word? 或Excel?良好兼容。操作简单易学，并且对所有测量方法操作过程都保持一致。 MMS? PC2提供实际上无限的测量数据存储空间，以及在线网络的更新服务。.
 

共有三种测量结果表示方式，可即刻辨别重要信息 (Numeric Display Mode, Control Chart Display Mode, Specification Limit Display Mode）。

评估
 

去了用户在对测量数据进行统计评估时常常需要进行的复杂而大量的数学计算。统计特性可以以列表和诸如正态分布图及柱状图的图形形式查看和打印。

• 钢和铁（Fe）上非铁磁性镀层厚度，如铬、铜、锌、油漆、搪
  瓷或塑料在铁基材上的厚度。
   
• 用于测量在非磁性金属基材上非铁磁性非导电镀层的厚度。如在铝，铜，锌上油漆或塑、清漆等的厚度。亦可用于测量铝基材上阳极氧化层的厚度。
  
   
• 奥氏体焊接金属或双联不锈钢的δ铁素体含量。
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NICKELSCOPE^®模块Module NICKELSCOPE^®

这一插入式模块采用霍耳效应方法测量镍或铁镀层在非铁基材上的厚度。
使用该模块测量：

• 非导电或非铁基材上电镀镍层的厚度。
  
   
• 厚的非铁金属镀层，例如：铜，铝或铅镀层在铁或钢上。

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这一插入式模块采用了Beta背散射方法。几乎可以测量在任何基材上的任何材料镀层厚度，只要镀层材料和基材材料元素间存在至少5个原子序数的差别。
该模块应用于：

• 不锈钢上的纳米薄膜（抗指纹膜）

• 太阳能电池薄膜（玻璃上的CdTe层）

• 在电镀厂用手持式探头经济地测量单个的镀层

• 在油漆制品以及金属基材上有机镀层的厚度.

• 在金属薄板生产和处理工业的防腐蚀油膜，蜡，"Bonazinc"等涂层的质量检测

• 薄片、纺织物

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SR-SCOPE^®模块

这一插入式模块采用了微电阻方法，适合于测量多层板上表面铜镀层的厚度。尤其是薄的层积板，也是组成多层印刷线路板的起始材料上的铜镀层，以及带环氧间隙层的多层板上铜镀层的厚度。

 

• 铜的厚度在0.1至10 µm (0.04 至0.4 mils) 以及5至120 µm (0.2至4.7 mils)，不受中间铜层的干扰。
   

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SIGMASCOPE^®-PHASCOPE^® 1/TEMPERATURE模块

该模块采用相位电涡流法，适用于以下测量要求：

• 非铁磁性金属的电导率测量（采用内置或外置温度传感器可自动补偿温度变化）
  
   
• 非铁磁性金属镀层的厚度，如钢铁上的锌、铜、铝等，尤其适合表面粗糙的情况或是在非导电基材上的非铁磁性金属镀层测厚。
  
   
• 非铁磁性低电导率基材上非铁磁性高电导率金属镀层的厚度测量，如黄铜或奥氏体材料上的铜厚测量。
  
   
• 钢铁上镍镀层的厚度测量。
  
   
• 阻焊材料之下的铜层的厚度。

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此模块需要配合SIGMASCOPE^®-PHASCOPE^® 1/TEMPERATURE模块一起使用。

• 可以测量PCB板上孔内铜层的厚度。

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PHASCOPE^® DUPLEX 模块
此模块集成了磁感应法和涡流相位法。，这样就能测量双层系统。 

• 只要一次测量就能同时测得Paint/Zn/Steel（双镀层）的厚度。

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