日本SSD进口H0110-S4B测量仪器MEASURES

日本SSD进口H0110-S4B测量仪器MEASURES

日本SSD进口H0110-S4B测量仪器MEASURES

静电衰减测量仪适用于检查材料的静电扩散率，通过用电晕放电产生的空气离子照射样品使样品带电，然后在停止照射空气离子后检查电荷的衰减曲线。 。全新升级为H0110-S4B。

该设备符合JIS L1094-1980半衰期测量仪的要求，即测试纺织品和针织物静电性能的方法。（如果需要用20mm的探头高度进行校准，请在购买时注明。）

作为使样品带电的方法，使用通过电晕放电产生的空气离子的照射，通过选择电晕放电的极性和施加电压，可以使样品带正电或负电。

可以测量所有片状样品，例如薄膜、板材、线、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制，请联系我们。

Honest 可以进行演示测量。请与我们联系以获取更多信息。

诚实数据分析系统已升级至V3。H0110-S4B 还支持 Honest。

为了将V3连接到H0110-S4A，需要对主机进行修改。对于其他旧型号，可能无法修改连接，请联系我们。

从H0110-S4开始，校准时的标准探头高度为15毫米，符合JIS。如需20mm校准，请在订购时注明。

购买时注明AC100V 50Hz/60Hz。