JY-FZ-2006A 半导体粉末电阻率测试仪

JY-FZ-2006A 半导体粉末电阻率测试仪

1.测量范围：电阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小电阻分辨率：0.1mΩ。
3.测量：0.3%读数±2字。
4.数字电压表：3档量程（20mV200mV2V)。
5.直流恒流源：5档量程（10μA100μA1mA10mA100mA)。
6.显示：3½位数字显示0--1999，自动显示小数点、单位、极性和过载。
7. 粉末测量：
①.试样粒度：标准筛网40目以上直至纳米材料。
②.试样容器：内腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜（可选件）。
③.试样高度：6--20㎜±0.1㎜；测量±0.1㎜。
④.取样压力：8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。压力量程0--200㎏可调。
8.电源：交流220V±10%，50HZ或60HZ,功率﹤50W。9.电气箱外形尺寸：440×320×120㎜。

FZ-2006A 半导体粉末电阻率测试仪

1.测量范围：电阻率10-2 -103Ω㎝。
2.小电阻分辨率：0.1mΩ。
3.测量：0.3%读数±2字。
4.数字电压表：3档量程（20mV200mV2V)。
5.直流恒流源：5档量程（10μA100μA1mA10mA100mA)。
6.显示：3½位数字显示0--1999，自动显示小数点、单位、极性和过载。
7. 粉末测量：
①.试样粒度：标准筛网40目以上直至纳米材料。
②.试样容器：内腔Φ16.30±0.1㎜、Φ6±0.1㎜（可选件）。
③.试样高度：6--20㎜±0.1㎜；测量±0.1㎜。
④.取样压力：8MPA±0.5MPA(80㎏/㎝2±0.5㎏/㎝2)。压力量程0--200㎏可调。
8.电源：交流220V±10%，50HZ或60HZ,功率﹤50W。9.电气箱外形尺寸：440×320×120㎜。