陶瓷成分分析仪 测量精度高 加大仪器内部空间

X荧光光谱仪随着分光、探测系统及X光管等的不断改善和电子计算机的应用，而得到迅速的推广和发展。可以预料，对新技术、新方法的探索，还会不断促进X荧光光谱仪器的更新发展。

X荧光光谱仪是一种的、非破坏式的物质测量方法，X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线，这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法，考古学和艺术品，例如油画和壁画。

X荧光光谱仪是一种较新型的可以对多元素进行同时测定的仪器，在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（即X荧光），波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。

X荧光光谱仪是一种无损的，应用广泛的光谱分析仪器，X荧光光谱仪由激发源和探测系统构成，X射线管产生入射X射线，激发被测样品，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。

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