Sinton少子寿命测试仪 BCT400/BLS-1

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霍尔效应测试仪

不用接触就可以简单准确地测量原生或成型硅块的真实寿命。与半导体工业标准PV(光伏）－13相符合。

Sinton少子寿命测试仪 BCT400/BLS-1 产品信息

操作简单、灵敏度高

BLS-I and BCT-400测量系统对于单晶硅或多晶硅（硅锭或硅块）不需要进行表面钝化就可以进行寿命测量。因为寿命测量是描述生长特征和污染缺陷灵敏度的技术，这些工具允许你评估硅生长后的质量。

性能优越

非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命，符合SEMI的PV13标准；相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更优越的少子寿命测试仪。

多型号选择

如果想要设备能够测量多种的表面类型（150mm直径到平滑的）请选BLS-1.如果是仅需要测量平滑表面，请选择BCT-400.

BCT400/BLS-1应用

厂商品质监控常见的测量设备，拥有广泛客户群

•测量寿命在1-5ms(豪秒）范围内的高纯度硅

•测量没有进行特殊表面处理的原生直拉硅

•测量多晶硅块的寿命和俘获浓度

•探测氧化硼缺陷，铁污染，和表面损害

•测试直拉硅，区熔硅，多晶硅或高纯冶金硅的初始原料质量

项目	内容
测量参数	少子寿命、电阻率、陷阱密度
可测量的少子寿命范围	0.1us-10ms
可测量的电阻率范围	0.5-300ohm.cm
分析模式	准稳态方法少子寿命分析瞬态方法少子寿命分析一般方法少子寿命分析
可施加的用于修正陷阱的偏执光范围	0-50suns
可以测量的样品的表面类型	表面为平的硅块样品（BCT-400）表面不平整的硅块样品（BLS-I）不平整弧度的直径可达150mm
光源光谱	白光和红外光
感应器的面积	45cm*45cm
可测量深度	3mm