产品|公司|采购|资讯

VersaProbe 4 X射线光电子能谱XPS

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称上海德竹芯源科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号VersaProbe
  • 所  在  地上海
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2024/5/15 8:58:06
  • 访问次数15
产品标签:

在线询价收藏产品 进入展商展台

联系我们时请说明是 智能制造网 上看到的信息,谢谢!

上海德竹芯源科技有限公司是一家专注于功率器件、光电器件、射频器件、量子器件、MEMS传感器领域的设备销售、系统集成、设备国产化的公司。主要为高校、研究所、中试量产线及晶圆FAB厂提供半导体工艺设备、检测设备、封装设备、测试设备。目前公司已成为国内少数几家专业提供半导体工艺、检测、封装、测试整体解决方案的企业。公司主要成员为复旦大学、上海微系统所等半导体相关专业博士,拥有一支经验丰富、技术过硬的团队。能够出色地完成售前售中、售后的服务。目前公司已与众多国际半导体设备企业建立了良好的合作关系(如:EVG、SAWNATEC、SENTECH、PICOSUN、SYSKEY、 Mavemn Panalyrical、PHL-CHINA、TEMPRESS,ROHDE&SCHWARZ、MPI等),致力于根据用户的科研方向和量产的器件类别提供相应的全套设备选型和工艺整体解决方案。
无线电综合测试仪
VersaProbe 4 配置了新设计的能量分析器,能实现从微区到大面积的高灵敏度分析。同时还具备高精度的角度接受器、自动荷电中和技术以及多样化的选配方案等特性,能够提供良好的深度分辨率。所有的这些特性都与自动化技术相结合,使得 VersaProbe 4 能够集高灵敏度、高可靠性和高可扩展性等优势于一体。
VersaProbe 4 X射线光电子能谱XPS 产品信息

关键技术

从小面积到大面积的高灵敏度分析

的深度剖析表现

自动电荷双束中和技术

自动化和远程控制,提供灵活的工作环境

多样化的配置


微聚焦的扫描X射线源

高灵敏度和低噪音能量分析器

作为一种重要的表面分析方法,广泛应用于固体材料表面的元素组分和化学态的研究,例如电池材料、催化剂、集成电路、半导体、金属、聚合物、陶瓷和玻璃等,可满足从研发到失效分析的广泛分析需求。

采用了新的高灵敏度分析器,灵敏度是上一代的 2 倍,具有更低的检测限,能够实现从微区(<10 µm)到大面积(>1 mm)的高灵敏度化学态分析。

微聚焦扫描 X 射线和 SXI 影像,通过类似 SEM 的 SXI 影像可以作为样品导航,实现精准地定义微区分析位置。

*SXI : 扫描X射线激发的二次电子影像





的深度剖析表现

使用微区XPS分析技术进行准确的深度剖析

VersaProbe 4 的高灵敏度微区分析和高度可重现的中和性能确保了深度分析的性能。样品倾斜和样品旋转相结合,可同时实现高深度分辨率和高能量精度。



在不同起飞角(TOA)下获得的 10 nm SiO2/ Si 薄膜的深度剖析结果




自动电荷双束中和技术

无需参数调整即可满足任何绝缘样品微区分析的荷电中和需求

VersaProbe 4 配备了自动中和技术,无需分别对每个待测样品进行中和参数调整。自动中和采用低能量电子束和低能量离子束的双束同时中和的技术,实现了简单可靠的高效中和。

该技术适用于中和各种材料,配合操作软件所提供的图像配准功能,可为微区分析带来出色的自动化操作体验。对于无机/有机混合材料以及从微区到大面积的所有分析尺寸,均可进行可靠且自动化的检测分析。




微区特征的图像配准功能


自动化和远程控制,提供灵活的工作环境

远程访问实现对仪器的远程控制

VersaProbe 4 允许通过公司的局域网或互联网访问仪器。一旦样品被引入分析室,就可以使用 Intro 照片和 SXI 导航样品,创建采集任务的自动队列,并可远程检查测量状态和分析数据。我们的专业人员可对仪器进行远程诊断。




多样化的配置

Ar 团簇离子枪(Ar-GCIB)

UPS(紫外光电子能谱)

LEIPS(低能量反光电子能谱)配件用于 AES 分析的扫描电子枪配件

专用 REELS 电子枪

可拓展的样品进样室

样品传送管

冷热变温样品台

4 触点冷热变温样品台

双阳极X射线源

C60 离子枪

样品预制备腔室

在找 VersaProbe 4 X射线光电子能谱XPS 产品的人还在看
返回首页 产品对比

提示

×

*您想获取产品的资料:

以上可多选,勾选其他,可自行输入要求

个人信息:

Copyright gkzhan.com , all rights reserved

智能制造网-工业4.0时代智能制造领域“互联网+”服务平台

对比栏