NEW 阻抗分析仪ZA57630

特点

结合用途配备丰富的功能！
以DUT特性的设定，支持高重现性且准确的测量。
准确的评价基于实际使用的操作条件。

电子零件、电子材料可能因测量频率及施加的信号级别而表现出不同的特性。电容器和电感器存在因寄生成分引发的频率依赖性，二极管等半导体器件由于 DC 偏置叠加而产生特性变化。
要评价真实的特性，重要的是频率、AC 振幅和 DC 偏置的扫频，在实际的操作条件下进行测量。

扫频 频率、AC 振幅、DC 偏置、零频宽

AC 振幅扫描

扫频

DC 偏置扫频

零频宽

不变更频率、AC 振幅和 DC 偏置的参数，按恒定的条件进行测量，观察不同时间的特性变化（横轴：时间）

● 也能应对点测

按恒定的频率 /AC 振幅 /DC偏置进行测量，以数值显示测量结果。最多可以设定 6 个项目。
与比较器功能组合，可以进行筛选及判定是否合格。

生产线内的测量

测量条件等的设定

在 1 个界面内直观地进行详细设定

设定项目（SETTING VIEW）

设定图表轴

设定频率

量程

自动量程

监视测量结果，同时自动设定最合适的量程进行测量。
检测到超过量程的外部噪声或直流分量时，重新设定为更大的量程并重新测量。测量数据的变化大时启用。

固定量程

量程固定，因此不会产生因量程变化引发的测量值不连续（段差）。

延迟功能

如果在扫描过程中变更了频率、AC 振幅等扫描参数，则瞬态响应将导致测量结果出现误差。参数变更后，可以延迟开始测量的时间。延迟包括“延迟开始测量”和“延迟测量”，前者在开始测量时延迟，后者在扫描过程中每次变更参数时延迟。

自动高密度扫频

在扫频测量中，本功能限定在测量数据突变的区间自动提高频率密度进行测量。
在压电振荡器、晶体振荡器等的共振特性测量中，本功能在相位急剧变化的共振附近的测量中启用。

误差校正

为进行准确的评价，需根据测量误差因子进行校正。

为进行准确的测量，需适当校正残余阻抗、电缆长度等各种测量误差因子。

开路校正

减少因残余导纳引起的误差

短路校正

减少因残余阻抗引起的误差

负载校正

以具有已知值的试样作为标准阻抗，校正与真值的偏差

端口延长

使用长电缆时，校正因传输延迟时间而产生的相位误差

电位梯度消除

消除测量信号所含的电位波动波形的影响。在由于电池等的充放电会引起电位变化的试样的测量中启用

补偿

预先测量连接到外部的传感器、电缆等测量系统的频率特性，校正测量系统的误差成分

输入加权码

校正探头的衰减量及前置放大器的增益

自行校准

校正自身误差

标记操作

本功能用于读取所显示的图表中 X、Y1、Y2 的测量值。
最多可使用 8 个标记。

Δ标记 显示与基准标记（标记 1）的差异

ΔTRKG 标记

与Δ标记同样显示差异，移动到标记 1 时，保持恒定的扫描值差异，同时进行移动

标记搜索功能

可自动搜索与设定条件一致的点

顺序测量

本功能预先设定多项所需的测量条件，按照该条件依次进行测量。最多可将扫描范围分割成 32 部分，各范围内按照不同的测量条件进行测量。
可高效地测量因电压值而使特性发生变化的多层陶瓷电容器（MLCC）、电感器及变压器等器件。

图表显示

SINGLE 显示 /SPLIT 显示

外观尺寸