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SpecEl Ellipsometer System

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  • 公司名称广州标旗电子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地广州市
  • 厂商性质代理商
  • 更新时间2025/5/22 7:29:40
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广州标旗电子科技有限公司成立于2005年,是一家科研基础平台和实验室建设、科技服务咨询、科学仪器和实验设备营销的科技服务和综合商贸企业,公司坐落于国家软件产业基地广州金颖园区,毗邻华南理工大学、华南农业大学、华南师范大学及暨南大学等高校区。公司以提高华南地区的科研基础装备建设水平为目标,从服务咨询、新产品推介、新技术研发和引进等多个方面开展公司业务,为广大客户在大型科研设备的调研和购置、新型仪器和新技术的资料信息采集、特异设备的定制和采购等提供优质服务,公司具备一般纳税人资格和进出口代理权。
  公司定位为高技术科技服务与成果转化企业,依托科技园区的人才优势,公司由华南理工、华南农大等院校毕业的博士、硕士为技术骨干,国内多家高校的教授和专业研究人员为我们提供签约技术支持,以扎实的业务功底和孜孜以求的创业热情为客户提供专业服务。公司经过快速的发展,与国内外数百家实验仪器生产厂家有着良好的业务联系和协作关系,客户涉及高校、科研院所、医院、企业、政府部门等多个领域,是多家科技装备企业在中国和华南地区的*代理和经销商,包括:OceanOptics 光纤光谱仪(全国代理商),PerkinElmer分析仪器、罗德与施瓦茨监测系统、美国Spectrecology微型光纤光谱仪,韩国K-MAC 科美仪器,e-box电子防潮柜、“帕恩特”纯水/超纯水系统、TOMTAC液体处理工作站、以及ABEL色谱仪等实验分析仪器、生化仪器、检测仪器、环保仪器、化学试剂、实验室耗材等。
  公司还在自主创新的道路上快速前行,从去年以来累计自主研发了微量紫外分光光度计、薄层层析检测仪、便携式珠宝检测仪、平面光学元件检测仪及球面光学元件检测等仪器。
  “专业精神、真诚服务”是标旗的服务宗旨。我们不懈地追求*的售前、售后服务以提高客户满意度。为了全面提升标旗公司的服务质量,除了不断引进新的产品,近年来我们更着重于从优化组织构架、培训提升员工服务意识等。面对新的挑战,我们深沉思索、感悟良多,“学习成就未来”将指导我们明确方向、激励我们追求*!
 

光纤光谱仪,光纤,防潮柜
SpecEl Ellipsometer System
SpecEl Ellipsometer System 产品信息

The SpecEl-2000-VIS Ellipsometer measures polarized light reflected from the surface of a substrate to determine the thickness and refractive index of the material as a function of wavelength. The SpecEl is controlled via a PC. Measure refractive index, absorbance and thickness with the touch of a button.

All-in-one Accurate System

The SpecEl houses an integrated light source, a spectrometer and two polarizers fixed to 70°. It also includes a PC with a 32-bit Windows operating system. The SpecEl can detect a single layer as thin as 0.1 nm and up to 5 µm thick. In addition, it can provide refractive indices to 0.005°.

The SpecEl is available for Call for Price.

SpecEl Software and "Recipe" Files

In SpecEl Software, you can configure and save experiment method files for one-step analysis. after creating a "recipe," you can select the recipe to execute the experiment.

Specifications

Wavelength range: 380-780 nm (standard) or 450-900 nm (optional)
Optical resolution: 4.0 nm FWHM
Accuracy: 0.1 nm thickness; 0.005% refractive index
Angle of incidence: 70°
Film thickness: 1-5000 nm for single transparent film
Spot size: 2 mm x 4 mm (standard) or 200 µm x 400 µm (optional)
Sampling time: 3-15 seconds (minimum)
Kinetic logging: 3 seconds
Mechanical tolerance (height): +/- 1.5 mm, angle +/- 1.0°
Number of layers: Up to 32 layers
Reference: Not applicable

 

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