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太阳能紫外线老化试验机_紫外预处理试验机

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  • 公司名称广东宏展科技有限公司杭州分公司
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  • 更新时间2017/4/26 17:28:04
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太阳能紫外线老化试验机_紫外预处理试验机 进行太阳能紫外光耐久度测试。
因现实气候条件的不可控制以及多变性不同,在实验室进行太阳能紫外光耐久度测试不单可以提高测试速度,
太阳能紫外线老化试验机_紫外预处理试验机 产品信息

太阳能紫外线老化试验机_紫外预处理试验机

Q8-PV2紫外光老化測試儀 UV Tester
进行太阳能紫外光耐久度测试。
因现实气候条件的不可控制以及多变性不同,在实验室进行太阳能紫外光耐久度测试不单可以提高测试速度,
根据要求复制老化的条件,也可保证实验的精确度和可重复性。
Q8-PV2紫外光老化测试机采用高强度紫外UVA+UVB输出,一周内可完成测试;
并拥有以下优点:
?辐照控制简单
?维护工作量小
?试验样品辐照均匀
?灯管寿命长且稳定
 
 
 
?本设备经UL*、TUV测定,并符合IEC 61215、IEC61646 规范
?可同时测试双片模组
?可依需求设定测试流程(UVA、UVB可分开或独立测试)
?本套系统利用加热垫贴於太阳能模组後方加热模组,易达成IEC61646规范要求
?以PID风扇控制模式进行温控,并设有温度监控点,以监控腔体及模组温度
?特殊设计之UV sensor,可自动伸缩量测光源,伸缩间隔时间可设定10min~1hr,避免senor结构老化造成数值偏差
?UV灯更换容易,半小时即可完成
 
 
 
产品 总输出功率 寿命 外观尺寸
UV-A 灯管 250W (320nm-400nm) 500hr (W)2000 *(D)2000mm*(H)2700mm
UV-B 灯管 25W (280nm-320nm) 3,000hr
 
 
 
?开启感知器与灯源互锁可避免人员曝露UV光源下
?温度安全开关腔体温度大於80℃自动断电警报
?本体接地处理
?漏电断路器,防止意外感电事件 
 
 
 
 
 

    执行标准:IEC 61215:2005 & Ed.3IEC 61646:2008IEC 61345:1998

     微机控制,人机对话,自动化程度高,*实现了辐照度、温度等自动监控。

  光电传感器X-Y方向全程扫描,监控有效辐照区域内每组光源辐照强度情况。

  实时显示两个波段的辐照强度和辐照量,自动完成设定试验。

 

n         双道门联锁,保证无紫外光泄漏,确保操作人员的安全。

n         特制的导轨装置,可方便地推入和拉出组件。

n         风道循环系统,确保试验温度均匀性,满足60±5标准要求。

n         避免紫外线照射可能产生的臭氧,是标准*的重要条件。

n         温度传感器为可移式,可监测组件表面任意点温度。

n         采用*荧光紫外灯管,满足280~320nm320~385 (400)nm两个波段辐照量的要求。

n         Q8-801工业触摸屏+PLC可编程控制器+打印机输出,人机对话,自动监控,并实现了温度及辐照度等测试数据及工作曲线的存储及输出打印功能,也可根据用户需要改为上位机监控。

n         保证280~320nm辐照280~400(385)nm的比例,幅照度自动补偿,同时确保组件测试面两波段幅照均匀度±15%

n         辐照计传感器安装于传送轴上,自动定位。

n         全程扫描,辐照度自动补偿,保证了均匀度及准确性。

n         特制的程序控制镇流器,调幅5%~*,保证在光源能量衰减时对能量自动补偿。

n         辐照量自动积分,即使辐照度衰减亦不影响辐照总量的计算,并相对延长了灯管的使用寿命。

n         仪器内部安装两只经标定的辐照计,经D/A转化传输至PLC,其波长分别为280~320nm280~400(280~385)nm

n         辐照度的外校选用的辐照计及光谱仪标定,NIST溯源。PLC具备辐照度修正功能。

n         宏展仪器公司研发的截止波长320nm滤镜,用于仪器内部辐照度传感器。

n         辐照度280~400nm范围内不超过250W/m2/280~400nm

n         执行IEC 61345时,分别设置280~320nm辐照量7.5KWh·m-2320~400nm辐照量15KWh·m-2;执行IEC 61215时,分别设置280~320nm辐照量5KWh·m-2280~385nm辐照量15KWh·m-2;执行IEC 61646时,设置280~400nm辐照量15KWh·m-2,其中280~3203~10%

n         系统选用*Q8-801工控触摸屏+可编程控制器,zui大程度地提高了系统的测量精度和可靠性,同时使操作员的工作变的简便和直观。

n         系统的延展性能得到很大提高,程序员可以根据用户需求随时修改界面和程序,扩展仪器的开发空间,延长开发寿命。

n         系统集成了诸多技术亮点,如集中控制、自动调光、伺服驱动、紫外幅照全程全景跟踪、试验数据库系统及打印功能。

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