Ｘ射线荧光－Ｘ射线衍射联用仪（ＸＲＦ－ＸＲＤ）

ＸＲＦ－ＸＲＤ联用仪是元素分析和结构分析的技术融合。

ＸＲＦ是进行元素快速检测分析的有效手段，通过Ｘ射线轰击原子层外的电子使得电子在不同电子层跃迁，电子跃迁时会释放特定的能量－荧光射线，通过捕捉荧光射线的能量即可实现元素的定性识别及含量分析。

ＸＲＤ是进行晶体物质结构分析的基础手段，可以得到晶体物质的结构信息及成分信息。ＸＲＦ－ＸＲＤ联用仪则将两种手段结合起来，可以实现晶体物质的元素定性定量、成分及结构的一体分析。

产品简介：奥林巴斯NDT XRD-XRF联用仪BTX-PRO

功能特点：

• 元素定性定量分析：Ｍｇ－Ｕ，ｐｐｍ－ｗ％，检测快速，１０ｓ得结果，样品只需粉体即可；
• 晶体物相分析：自动出峰，自动匹配，自动出物相定性半定量结果；
• *ＸＲＦ－ＸＲＤ联用仪，一体机设计，一台仪器，两种功能；
• 触屏设计，优化的操作界面；

可选配旋转多样品系统，可同时装入２０个样品，实现自动批量分析。