惠州高低温冷热冲击环境箱/博罗县冷热冲击试验设备

惠州高低温冷热冲击环境箱/博罗县冷热冲击试验设备满足的试验方法有：SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式；GB/T2423.22-1989温度变化试验；GB/T2423.2-1989高温试验方法；GB/T2423.1-1989低温试验方法；GJB360.7-87温度冲击试验；GJB150.5-86温度冲击试验；IEC68-2-14_试验方法N_温度变化；GJB367.2-87 405温度冲击试验；GB/T 2423.22-2002温度变化；GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则；EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估等等。

惠州高低温冷热冲击环境箱/博罗县冷热冲击试验设备规格与技术参数

型号 CJ-80   CJ-150   CJ-252

内部尺寸（cm） 50×40×40  60×50×50  70×60×60

外部尺寸（cm） 172×200×147  182×210×157  192×220×167

测试区温度范围 高温：+60℃～+150℃ 低温：-10℃ ～ －65℃（A：-45℃ B：-55℃ C：-65℃）

（高温区） 升温时间 RT—200℃约需45min

（低温区） 降温时间 RT—-70℃约需90min

回复时间 5min内

温度稳定度 ±0.2℃

保温材质 耐高温、高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘材料

系 统 P.I.D+S.S.R+微电脑平衡调温控制系统

冷冻系统 法国泰康全封闭风冷式复叠机

保护装置 无熔丝开关、压缩机高低压保护开关、冷媒高压保护开关、故障警告系统、电子警报器

配 件：上下可调隔层两片

电 源： 3Φ380V/415VAC±10% 50Hz 

产品用途　

该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

二箱式：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经气动系统在两箱间切换。

三箱式：该冲击试验箱为待测品静置之冷热交替冲击方式，广泛使用于电子零组件测试，半导体，电子线路板，金属化学，材料等测试设备。试验箱下部为低温蓄冷区，上部为高温蓄热区，试件（待测品）放置在试验箱中部，高温冲击时，上风门打开，形成高温内循环。低温冲击时，上风门关闭，下风门打开，形成低温内循环。该冲击试验箱的zui大特点是：试件（待测品）静止不动，使用户避免了因试件移动带来的诸多不便。