EDX-LE PlusX射线荧光光谱仪

EDX-LE PlusX射线荧光光谱仪

仪器简介：

EDX-LE Plus是一款于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以*可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时*该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。

技术参数：

1. 测定原理  X射线荧光分析法

2. 测定方法 能量色散型

3. 测定对象 固体、液体、粉状

4. 测定范围 13Al -92U

5.样品室尺寸 大W370mm×D320mm×H155mm

6. 制冷方式  电子制冷

7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换

8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析

EDX-LE PlusX射线荧光光谱仪主要特点：

●利用“筛选分析”画面，操作简单方便

●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理

●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能

●提升筛选效率，高精度?高速分析

●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品

●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到小程度

●配备保护功能，限制条件或数据的变更

●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义