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三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称深圳市安川测量仪器有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地深圳市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/5/15 12:33:53
  • 访问次数20
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采购部:15857100067QQ:342806899

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深圳市安川测量仪器有限公司是一家专业从事各类测量仪器、测量工具、电镜耗材、工业化工用品、科学实验仪器设备、生产加工消耗品、安全防护劳保用品、手动工具、电动及气动工具、光学仪器、焊接工具、研磨工具、等各类进口工具产品的综合服务贸易商,从事进口工业品贸易已有十年之久,公司拥有完善的供应链和熟练的电子销售模式以及充足的库存,为客户提供一个种类齐全、价格优惠、优质的销售平台,公司拥有专业的销售团队、技术团队、的管理团队,通过全体员工的不懈努力,凭借在工业品领域的专业水平和成熟技术,公司服务于电子消费类、半导体,液晶光电,汽车业、造船业、地铁、等专业用户里的世界500强企业。目前公司已和多家海外厂商建立了长期,稳定的合作关系,并获得了多家品牌的中国代理。 安川凭借着专业的销售代理经验、赢得了广大客户的信任,并将的信息技术、高科技产品、快速、高效的供应给客户,为中国各地工厂及公司提供优质的产品和的服务,公司多年来秉承的方针是以诚信,高品质、快速的货期给客户提供便利服务,得已能够在日渐激烈的竞争当中还能发展壮大,我们通过减少中间环节,降低客户成本,并提供便利的配送服务,将,高性价比的产品送到每个客户的手上
六速粘度计
产品简介: 三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ SWT系列探头可互换。  ◆ 两用型 : FN-325   ◆ 铁材用 : Fe系列      ◆ 非铁材 : NFe系列
三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ 产品信息

三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ 

三高SANKO膜厚计SWT-7000III SWT-7200Ⅲ 

SWT系列探头可互换。 

 ◆ 两用型 : FN-325  

 ◆ 铁材用 : Fe系列       

 ◆ 非铁材 : NFe系列

SWT-7200Ⅲ 探头可互换、保存、统计计算、数据传送等的高功能机型

●可根据用途来选择探

●在LCD画面上显示操作的顺序。

●大容量的测定值存储器

 (9200:20000个

●设定的检量线可简单使用测量

●内存设置上下限值、统计演算功能。

●可连接USB向电脑进行数据的传送。

 

用    途

●涂层/衬层/镀金

●耐酸层

 

规    格

测量范围    连接探头(另卖)

显示方式     LCD画面

检量线校正    2点校正式

检量线存储     10根

测量值存储     20000个

数据传送    USB

电    源        单3电池(1.5V)×2

    专用电源线

     附带自动关机功能

使用温度    040

尺寸重量    72(W)×30(H)×156(D)mm

    约200g

附属品      收纳袋

     专用电源线

      USB连接线、USB软件

探    头      测量的底材金属的不同进行选择

    ·铁底材用(Fe)

    ·非铁底材用(NFe)

    ·铁底材·非铁底材两用(FN-325)

(请参照专用探头页)

 

 

 

 

探测头型号

FN-325

测量方式

电磁式·涡电流式两用(铁·非铁底材自动识别)

测量范围

铁底材:03.00mm、非铁底材:02.50mm

表示分辨率

1μm0999μm的切换(铁·非铁共通)

  0.1μm0400μm(铁·非铁共通)

  0.5μm400500μm(铁·非铁共通)

0.01mm:1.003.00mm(铁底材)

0.01mm:1.002.50mm(非铁底材)

测量精度

(平滑表面)

0100μm:1μm(铁·非铁共通)

或者是指示值的±2%以内

101μm3.00mm:±2%以内(铁底材)

101μm2.50mm:±2%以内(非铁底材)

探测部

1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm72g

选择产品

V形探测头套有3种(φ5以下用、φ510用、φ1020用)

附属品

标准校正板、试验用零校正板、(铁用·非铁用)

测量对象

铁底材:铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、

  电镀(电解镍除外)等

非铁底材:铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等

  一般较普遍的测量物用

 

SWT-7000Ⅲ系列机型

机型

SWT-7000

SWT-7100

SWT-7200

测量范围

连接的探测头不同测量范围也不同。

显示方式

  液晶显示LCD(数据·提示信息)、背光灯

检量线校正

2点校正方式(零校正、标准校正)

检量线存储

铁、非铁各1

10

测量值存储

20,000

数据传送

USB

USB

统计功能

内藏

 

附加功能

背光灯   测量模式的切换(普通/连续)   检量线、校正值的删除

 ●自动关机功能(约3分以上不操作时,机器会自动关机) 分辨率的切换  

 ●上下限值的设定(SWT-7200

电源

3电池 ×2

3电池 ×2专用电源线

使用温度

040C°(不结露)

机体尺寸·重量

72W×30H×156Dmm 重量 210g

附属品

干电池、收纳袋子

干电池、收纳袋子、电源线、USB线、USB软件(CD

追加产品

铁材金属用探测头(Fe)、非铁材金属用探测头(NFe

·非铁材用探测头(FN-325






 

SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头1)(Fe

型号

Fe-2.5/2.5L

Fe-2.5LwA

Fe-0.6Pem

测量方式

电磁感应式

测量范围

02.50mm

0600μm

表示分解率

1μm0999μm

切换

  0.1μm0400μm

 0.5μm400500μm

  0.01mm:1.002.50mm

1μm0600μm

切换

0.1μm0400μm

  0.5μm400500μm

 

测量精度

(平滑面)

0100μm:±1μm

又或者时显示值的±2%以内

  101μm2.50mm±2%

0100μm:±1μm

又或者时显示值的±2%以内

101μm600μm±2%

探测部

1点定压接触式

V形口套头

  2.5φ13×48mm

  2.5L:18×23×67mm

1点定压接触式

测量部:约20×57mm

全长:约550 1.550mm

  (伸缩式)

1点定压接触式

  Φ5.6×94mm

选择产品

V形套头/—

φ5以下用、φ510用、φ1020用)

附属品

标准校正片

试验用零校正板

(铁用)

标准校正片

试验用零校正板(铁用)

收纳袋子

标准校正片

试验用零校正板

  (铁用)

测量对象

·钢等的磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂层、电镀层(电解镍的电镀层除外)等等

·钢等的磁性金属底材是个的皮膜、衬层等等手不能进去、高的地方、有距离的地方的涂层厚度的测量。

·钢等磁性金属底材上的涂层、衬层等狭小的地方、小的部位的涂层的膜厚测量。

 

SWT-7000Ⅲ系列的铁材金属用探测头2)(Fe

型号

Fe-10

Fe-20

测量方式

电磁感应式

测量范围

010mm

020mm

表示分解率

 

1μm0999μm

0.01mm:110mm

 

  1μm0999μm

0.01mm:15mm

0.1mm:520mm

测量精度

(平滑面)

03mm±5μm+显示值的3%

  3.01mm:显示值的±3%

探测部

1点定压接触式

V形口套头

φ18×47mm

1点定压接触式

V形口套头

φ35×59mm

选择产品

附属品

标准校正片、试验用零校正板(铁用)

测量对象

·钢等磁性金属底材的比较厚的涂层用

·钢等磁性金属底材上的厚涂层用

 探测头要根据需要购买。

SWT-7000Ⅲ系列的非铁材金属用探测头NFe

型号

NFe-2.0/NFe-2.0L

NFe-06

NFe-8

测量方式

涡电流式

测量范围

02.00mm

0600μm

08mm

 

表示分解率

1μm0999μm

 切换

0.1μm0400μm

  0.5μm400500μm

  0.01mm:1.002.00mm

1μm0600μm

 切换

0.1μm0400μm

 0.5μm400500μm

 

 

1μm0999μm

0.01mm18mm

 

 测量精度

(平滑表面)

0100μm:±1μm

又或者时显示值的

±2%以内

101μm2.00mm

  ±2%以内

0100μm:±1μm

又或者时显示值的

±2%以内

101μm600μm

  ±2%以内

0100μm:±1μm

±±1μm+显示值的±2%

101μm8mm

  ±2%以内

 

探测部

1点定压接触式

V形口套头

2.0φ13×47mm

2.0L18×23×67mm

1点定压接触式

V形口套头

φ11×48mm

 

1点定压接触式

V形口套头

φ35×61mm

 

选择产品

V形套头/-

附属品

标准校正片、试验用零校正板(非铁用)

测量对象

铝、铜等非磁性金属底材

上的绝缘性皮膜等一般普

通测量物用。

铝、铜等非磁性金属底

材上的绝缘性皮膜等

细小的圆棒、细管、小

物件等的高安定性用。

铝、铜等非磁性金属

底材上的绝缘性皮膜等

比较厚的测量物用。

探测头要根据需要购买。


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