产品展示
JD25-CJD25-C数据处理测长仪
【简单介绍】
【详细说明】
详情介绍:
JD25-C数据处理测长仪
一、特点:
JD25-C数据处理测长仪基座选用上等铸铁,经长期自然时效处理,稳定性好。采用优化设计,从结构上确保性能好,精度高。附件齐全,性好。JD25-C数据处理测长仪采用光栅数显技术,以精密光栅尺作为测量元件。软件功能齐全,不仅能对示值误差进行修正,同时还能自动修正由温度造成的测量误差。软件带有自动判别拐点功能。
二、用途:
JD25-C数据处理测长仪是光、机、电、算一体化的长度计量仪器,除可用于对零件的内外尺寸进行优良测量和比较测量外,还可使用仪器所带的专用附件组合进行各种特殊测量,该仪器主要应用于机械制造业,工具、量具制造及精密仪器制造等各级计量鉴定部门和企业的计量室。
其主要测量对象包括:
光滑圆柱形零件(轴、孔、塞规、环规等)
内螺纹、外螺纹、螺纹塞规、螺纹环规的中径。
带平行平面的零件(卡规、量棒、较低等级的量块)
三、规格参数:
测量范围(㎜):
外尺寸:优良测量0—100;相对测量0—670
内尺寸:使用小测钩(*大伸入深度12,*大臂厚50)时,10~400
使用大测钩(*大伸入深度50,*大臂厚85)时,30~370
用电测测钩:1~60㎜;用测钩:14~112㎜
内螺纹中径测量:使用大测钩时(螺纹小径13~30㎜)
使用大测钩时(螺纹小径31—(70—臂厚)×2)
螺距:0.5~6㎜
外螺纹中径测量:*大200㎜,螺距1~6㎜
测量力(N):0、1.5、2.5
数字显示当量:0.0001㎜
仪器示值变动性:外尺寸测量时,2σ≤0.3μm
内尺寸测量时,2σ≤0.5μm
仪器准确度:外尺寸优良测量时,仪器准确度优于(0.5+L/200) μm
内尺寸测量时,仪器准确度优于(1+L/200) μm
工作台:
安装面积:160×160mm2
高度调节范围(㎜):0~100
横向行程:25㎜
绕Y轴倾斜:±3°
工作台转动:±4°
允许荷重:10㎏
测帽内径配合尺寸:φ6H7
测帽杆与测帽内径配合的外径尺寸:φ6g6
仪器外形尺寸(㎜):长×宽×高=960×390×450
仪器重量:150㎏
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