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镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
镀层测厚仪有很多种的，用法也不一样，上海精诚兴仪器仪表有限公司生产的XRF-2000镀层测厚仪使用很简单，HC-625便携式镀层测厚仪特点：采用磁感应测量方法符合国家标准GB4956和标准IS02178,它的电路设计引入新技术，高精度、可靠性高、稳定性好、反应灵敏、功耗低、操作方便、支持一点和多点校准、单探头两用测量、体积小、重量轻；且其性能达到当代涂层测厚仪的*水平，能够无损的进行涂层、镀层厚度的测量。能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护专业*的仪器。既可用于实验室，也可用于工程现场。
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