电镀层测厚仪韩国先锋XRF-2020系列

产地：韩国

品牌：Micro Pioneer 微先锋

型号：

XRF-2020H :测量样品高12cm

XRF-2020L:测量样品高3cm

XRF-2020PCB测量样品高3cm

 H型，L型，长宽为55cm，PCB型开放式设计

三款机型均为全自动台面，自动雷射对焦。

应用：电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​

合金镀层：铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

MicropXRF-2020镀层测厚仪测试范围   

金：0.03-6um

钯：0.03-6um

镍：0.5-30um

锡：0.3-50um

银：0.1-50um

铬：0.5-30um

锌：0.5-30um

锌镍合金：0.5-30um

韩国先锋XRF-2020精度

首层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±15%以内

MicropXRF-2020镀层测厚仪:

L型XRF-2020先锋测厚仪:测量样品高3cm内,

H型XRF-2020镀层测厚仪型容纳样品10cm,长宽均为55cm

可测各种电镀镀层,镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜,镀锌镍各金等。

可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限底材。

镀层测厚仪韩国XRF-2020原理:

X射线或粒子射线经物质照射后

由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来

而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的

荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析

电镀层测厚仪韩国先锋XRF-2020系列