X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

仪器功能

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 

测量样品高度12cm内

镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度

测量时间：10－30秒
 

精度控制：

首层：±5%以内

第二层：±10%以内

第三层：±12%以内

韩国MicroPioneer先锋X-RAY膜厚测试仪

XRF-2000镀层测厚仪

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*
 

同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
 

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器，半导体PCB等

X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020