X射线铜上镀银测厚仪

韩国先锋XRF-2000系列

X射线测厚仪

产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  

XRF-2000 系列：  
 

1. H型: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。  
2. L型:  密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。  
3. PCB型:  开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下

应用 : 

检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度

测量范围根据不同镀层0.04-35um

精度控制：

表层：±5%以内
第二层：±8%以内
第三层：±12%以内

测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等

其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )

X-RAY膜厚仪

原产地：韩国

品牌：Micropioneer微先锋

货号：XRF-2020

应用：电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

XRF-2020三款机型均为全自动台面，自动雷射对焦。

韩国MicroPioneerXRF-2020测试范围   

镀金: 0.03-6um

镀钯: 0.03-6um

镀镍: 0.5-30um

镀锡: 0.3-50um

镀银: 0.1-50um

镀铬: 0.5-30um

镀锌: 0.5-30um

镀锌镍合金： 0.5-30um

Micro PioneerXRF-2020测厚仪​精度

表层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±15%以内

韩国MicroPioneer

微先锋XRF-2020X-RAY膜厚仪​

可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等，不限底材。

如单镀层铜上镀银，铜上镀镍，铜上镀锌，铜上镀锡，铁上镀镍等

双镀层如铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍，铜上镀镍镀银等，不限底材

多镀层如：ABS上镀铜镀镍镀铬，铁上镀铜镀镍镀金等，不限底材

合金镀层如：铁上镀锌镍等。不限底材

韩国MicroPioneer金属镀层测厚仪

标牌：Micro Pioneer  微先锋

货号：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-PCB三款

XRF-2020L型：测量样品长宽55cm,高3cm

XRF-2020H型 测量样品长宽55cm,高12cm

X射线铜上镀银测厚仪检测范围0.1-50um