韩国XRF-2000测厚仪X-RAY膜厚仪
X射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
韩国Micropioneer XRF-2000系列X射线金属镀层测厚仪分为以下三种型号:
1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。
2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。
3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。
应用 :
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )。
行业 :
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。
特点 :
非破坏,非接触式检测分析,快速精准。
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。
兼容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告 。
标准参数:
主机箱
输入电压:AC220V±10%,50/60HZ
通讯方式:USB
温度控制:前置放大及机箱温度控制
对焦:镭射自动对焦
样品对位:镭射对位
安全装置:若测量中箱门打开,X射线会在0.5秒内关闭
表面泄漏:少于1uSv
多通道分析
通道数量:8K(8192)
温度控制:自动前置放大温度控制
脉冲处理:微电脑高速处理器
X射线源
X射线管:油冷,超威细对焦(选项)
高压:0-50kV(程控)
管电流:0 -1mA(程控)
目标靶:W靶(可选Mo或Be)
准直器
种类:固定型或自动型(选项)
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1*0.4mm;其它大小(选项)
自动种类大小:0.1,0.2,0.3,0.4,0.05*0.4mm
电脑系统
电脑:联想或IBM相容
显示器:液晶彩色显示器
印表机:喷墨彩色打印机
校正
应用:单镀层,双镀层,合金镀层,电镀液
修正功能:密度修正,标准样品再校正
2D、3D、随机位置测量
2D:均距表面测量
3D:表面排列处理测量
随机位置:任意设定测量点
检测系统
检测器:正比计数器
检测滤片:Co或Ni(选项)
初级滤片: Al(选项)
X-Y-Z 三轴样片台
操作模式:高速精密马达,可控制加减速
位置控制:鼠标定位;样品台视窗控制;防呆摄像机监控;2D、3D、随机定位;程控定位;箱门开关Y轴传输
摄像系统
摄像器:彩色数字CCD摄像头
显示模式:显示器覆盖模式
刻度线:软件产生
光束显示:软件显示真实大小
照明灯:光暗控制
自动修正功能:光束及十字线自动修正
统计功能
处理项目:zui大/ zui小值,位移,平均值,标准差,Bar图表R图表及方型图等等
报表:五种模式可选
处理能力:zui多90项
标志功能:可插入公司标志
预览:打印前预览,可节省纸张
定性分析
显示模式:元素频谱显示
方法:ROI距离定性分析
元素显示:标线图案显示
指标显示:显示元素及测量数值
ROI显示:显示ROI彩色图
放大功能:局部倍大
平均功能:柔和显示频谱
视窗大小:无级别式视窗大小
韩国XRF-2000测厚仪X-RAY膜厚仪