韩国微先锋Micro Pioneer X-RAY膜厚仪
X射线电镀测厚仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度
可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
XRF-2020镀层测厚仪
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯
规格型号如下图所示
应用 :
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等
可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层：
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
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