铜上镀锡X射线测厚仪

韩国XRF-2000镀层测厚仪

XRF-2000镀层测厚仪三种型号

不同型号各种功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品

韩国XRF-2000H镀层测厚仪厂家供应仪器功能

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）

测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选

镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度.

测量时间：10－30秒

XRF2000电镀镀层测厚仪/电镀膜厚测试仪

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*

同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，

可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

电脑系统：彩色打印机

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能

铜上镀锡X射线测厚仪基本技术参数：

1、测量的厚度范围为0.03微米～35微米。

2、可满足的测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍等

3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量，不限底料。

三、设备功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜层

拥有多种滤波器选择

各种样品单层至多层（5层），合金膜层与溶液均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制镭射对焦与自动定位系统

多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效

1、主机箱：

输入电压：AC220V±10%，50/60Hz

沟通方法：RS-232C

温度控制：前置放大及机箱温度控制

对焦：激光自动对焦

样品对位：激光对位

安全装置：若测量中箱门打开，X射线会在0.5秒内自动关闭

表面泄露：少于1SV

2、多通道分析：

通道数量：1024ch

温度控制：自动前置放大温度控制

脉冲处理：微电脑高速控制处理器

3、X射线源：

   X射线管：油冷、超微细对焦

   高压：0-50Kv（程控）

   管电流：0-1mA（程控）

目标靶：W靶（可选Mo或Be）

4、准直器：

  固定种类大小：0.1mm-0.2mm-0.3mm-0.4mm-0.05*0.1mm 五个可选、、