韩国XRF-2000测厚仪总代理

韩国Micro Pioneer XRF-2000测厚仪

产品介绍

X射线电镀测厚仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  

韩国XRF-2000测厚仪三款型号：  
 

1. H型:  密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以内。  
2. L型: 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以内。  
3. PCB型: 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm内

            测量产品长宽均为55cm

应用 : 

检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度

测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等   
 

韩国XRF-2000镀层测厚仪

检测电子电镀,五金镀,LED支架电镀.PCB板电镀,化学镀,

如镀金,镀镍,镀锌,镀锡,镀钯,镀铜,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,操作非常方便简单

仪器配置

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间：10－30秒

精度控制：

      *层：±5%以内
      第二层：±8%以内
      第三层：±12%以内

XRF2000电镀测厚仪/电镀膜厚测试仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦，操作非常方便简单

 

XRF-2000镀层测厚仪

提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统：液晶显示器，彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

韩国XRF-2000测厚仪总代理