L型号韩国微先锋镀层测厚仪:测量样品高3cm,
MicopioneerXRF-2020测厚仪
XRF-2020镀层测厚仪
产地:韩国
品牌:Micro Pioneer
型号:
XRF-2020H :测量样品高12cm
XRF-2020L:测量样品高3cm
XRF-2020PCB测量样品高3cm
H型,L型,长宽为55cm,PCB型开放式设计
三款机型均为全自动台面,自动雷射对焦。
应用:电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等
合金镀层:铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
电镀镀层测厚仪韩国先锋XRF-2020测试范围
金:0.03-6um
钯:0.03-6um
镍:0.5-30um
锡:0.3-50um
银:0.1-50um
铬:0.5-30um
锌:0.5-30um
锌镍合金:0.5-30um
电镀镀层膜厚仪韩国先锋XRF-2020精度
首层:±5%以内
第二层:±8%以内
第三层:±15%以内
韩国微先锋MicopioneerXRF-2020测厚仪
L型XRF-2020镀层测厚仪:测量样品高3cm内,
H型XRF-2020镀层测厚仪型容纳样品10cm,长宽均为55cm
可测各种电镀镀层,镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡,镀铜,镀锌镍各金等。
可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限底材。
XRF-2020测厚仪原理:
X射线或粒子射线经物质照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析
L型号韩国微先锋镀层测厚仪:测量样品高3cm,