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半导体电子器件/冷热冲击试验箱

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所  在  地东莞市

更新时间:2017-03-14 15:57:12浏览次数:331次

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半导体电子器件/冷热冲击试验箱控制方式与特色:平衡调温控制系统(BTHC),以P.I.D方式控制SSR,使系统之加热量等于热损耗量,故能*稳定的使用。

半导体电子器件/冷热冲击试验箱是一样的意思,指向同一设备冷热冲击试验箱的别称。因为常用于led产品行业,所以被冠上使用产品+设备名称。本设备适用于测试led产品在瞬间下经极热温和极冷温的连续环境下所能承受的程度,即以在zui短时间内试验led成品或配件、led显示屏、led灯具等相关产品因热胀冷缩所引起的化学变化和物理伤害。当然,东莞爱佩科技公司生产的led温度冲击检测箱|led温度冲击测试箱适用范围广,除了这款led型的,还有适用于各行各业的产品专型试验机:如航天、舰船、PCB电路板、光电、仪表、通信通讯、半导体、电脑零部件、电线电缆、电工、汽车配件、电子、计算机、照明灯具、变压器、五金制品、连接器端子、金属、电源电阻、塑料、橡胶、安防产品等等。用于这些产品整机及零部件的温度冲击检测或测试其性能。

半导体电子器件/冷热冲击试验箱技术参数:

控制方式与特色:平衡调温控制系统(BTHC),以P.I.D方式控制SSR,使系统之加热量等于热损耗量,故能*稳定的使用。

A、性能:

方式:试物静止型,冷热风切换方式,2ZONE or 3-ZONE切换

试验室温度:-40℃~150;-55℃~150;-65℃~+150(三个温度范围可三选一)

溫度波動度:±2.0

高温室预存温度:60℃~200

低温室预存zui低温度:-75℃~-10

升温时间:RT(室溫)+200℃約30min

降温时间:RT(室溫)-75℃約60min

温度冲击速度:3-ZONE式:-40℃~25/5 min150/5 min之内升降

2-ZONE式:-40℃~150/5 min之内升降

可做-55℃~200℃之间的高低温储存老化试验

温度复原时间:5 min

试验室尺寸:50x40x40 mm(W×H×D

外箱尺寸:约170 x180 x144 mm(W×H×D

试验物重量:5kg

冷凝方式:水冷式(东莞市爱佩试验设备有限公司所有水冷式设备均含冷卻水塔,包括水泵,配管)

控制方式:微电脑可程控+PID+SSR

发热量:zui大允许负载发热量为1Kw

东莞市爱佩试验设备有限公司主要经营led温度冲击检测箱,led温度冲击测试箱,恒温恒湿试验箱,冷热冲击试验箱,高低温冲击试验箱,紫外老化试验箱,氙灯老化试验箱,RCA纸带耐磨耗试验机,盐雾试验机,工业烤箱,模拟振动运输台,*材料拉力试验机,等模拟环境检测仪器,咨询。

 

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