电子器件冲击箱与电子器件高低温冲击试验箱 返回列表页

电子器件冲击箱与电子器件高低温冲击试验箱是一样的意思,针对的是同一类同一标准的试验箱,此类试验箱是专业提供给电子器件在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱不仅适合电子器件使用,还是光电、金属、塑料、LED、橡胶、电子等工业材料行业*的试验设备，结婚分为两箱式和三箱式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008试验B、GB/T2423.1-2008试验A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。

电子器件冲击箱与电子器件高低温冲击试验箱技术参数:

1.内箱尺寸zui小：W350mm*H400mm*D350mm(本公司还有众多标准尺寸可选择,也可定制非标尺寸）

2.外箱尺寸：以实际尺寸为标准。

3.高温槽预热温度范围：+60℃～200℃；

4.升温时间： +60℃～200℃≤30min；

5.低温槽预冷温度范围： -75～-10℃；

6.降温时间： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降温时间为低温槽单独运转时的性能﹚ 

7.试验方式： 气动风门切换

8.温度冲击范围： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚

9.温度偏差： ±2.0℃

10.温度波动度： ±0.5℃

11温度恢复时间： ≤5分钟

12.试样限制：本实验设备禁止易爆、易燃、易挥发性物质试样的试验或储存；腐蚀性物质试样的试验或储存；

破坏能力*，功率比普通高低温试验箱高出许多倍。所以技术难度及成本也相对高许多。该试验设备主要用于对电工、电子产品，以及其元器件等各类产品按照国家标准要求或用户自定要求，在高温与低温瞬间变化条件下，对原产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟试验，试验后，通过检测，来判断相关产品的性能是否仍然能够符合预定要求，以便供各类产品的设计、改进、鉴定及出厂检验用。如有需要请生产厂家东莞市爱佩试验设备有限公司,价格及质量上有优势,欢迎前来咨询,谢谢。