科研实验冷热温度循环冲击箱

一、控制系统

1、控制器: 采用进口LED数显（P、I、D S、S、R.）微电脑集成控制器
2、精度范围: 设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃
3、制冷系统: 进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组，原装法国“泰康”全封闭风冷复迭压缩制冷方式
4、循环系统: 耐温低噪音空调型电机，多叶式离心风轮
5、温度转换时间: 从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S
6、温度恢复时间: ≤5min（与温度恢复条件有关，即冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）温度冲击方法: 垂直两箱法/垂直三箱法 （两箱式冷热冲击试验箱/三箱式冷热冲击试验箱）

二、产品概述

科研实验冷热温度循环冲击箱适用于电子电器零组件、通讯组件、自动化零部件、汽车配件、化学材料、金属、塑胶等行业、航天、国防工业、BGA、兵工业、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物对高、低温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩的物理环境产出的化学变化或物理伤害，可确认各种产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它,目前此设备是工业产业共认的理想测试工具。

三、满足标准

GB/T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温;GJB360.7-87温度冲击试验;GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温;GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件;GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件;GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;GB/T 2423.22-2002温度变化;GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则;SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式；SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 温度试验设备;GB2424.1 电工电子产品环境试验 高低温试验导则;GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;GB/T2423.22-1989温度变化试验；GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验;IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估;QC/T 17-1992 汽车零部件耐候性试验一般规则 汽车行业标标准等等包括其它产品行业标准。

四、科研实验冷热温度循环冲击箱技术参数

▲保温材质 耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料

▲系统 P．I．D + S．S．R + 微电脑平衡调温控制系统

▲冷却系统 半密闭式双段压缩机（水冷式）／全密闭式双段压缩机（风冷式）

▲安全保护装置 无熔丝开关、压缩机高低压保护开关，冷媒高压保护开关、故障警告系统，

▲电子警报器

▲配 件观视窗（特殊选购型）、上下可调隔层两片、通电测试孔、脚轮、水平支架

▲电 源 AC380V 50Hz／60Hz 3 

▲尺 寸可选择:W×H×D:40×35×30（cm）；50×40×40 （cm）；60×50×50 （cm）；70×60×60（cm）更大尺寸可非标定制。

▲升温时间（蓄热区）RT～200℃约需35min

▲降温时间（蓄冷区）RT～-70℃约需85min

▲温度回复时间／转换时间≤5min内/≤l0秒内

▲温度控制精度／分布精度 ±0.5℃／±2.0℃