封装材料温度冲击试验箱

一、适用对象

l封装材料温度冲击试验箱适用于各种金属、塑料、塑胶、电子产品等材料的高低温瞬变冲击测试。

l用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

二、执行与满足标准

1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；      
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；      
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；      
4、GJB150.5-86温度冲击试验；      
5、GJB360.7-87温度冲击试验；      
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。      
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式       
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式       
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化       
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则       
11、GB/T 2423.22-2002温度变化       
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则     
13、EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估

三、封装材料温度冲击试验箱技术参数

1.参数如下：
JR-WD-50内箱尺寸：350×350×400  外箱尺寸：1560×1750×1440(分别是宽×高×深) (mm)
JR-WD-80内箱尺寸：500×400×400  外箱尺寸：1700×1800×1440(分别是宽×高×深) (mm)
JR-WD-100内箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440(分别是宽×高×深) (mm)
JR-WD-150内箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540(分别是宽×高×深) (mm)
JR-WD-250内箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640(分别是宽×高×深) (mm)
JR-WD-480内箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150(分别是宽×高×深) (mm)
2.试验温度范围： A表示：-40℃～+150℃ B表示：-55℃～+150℃ C表示：-65℃～+150℃
3.温度波动度：±2.0℃
4.温度偏差： ±2.0℃
5.温度波动度： ±0.5℃
6.温度均匀度±2.0℃
7.温度转换时间：10S
8.温度恢复时间： ≤5分钟
9.系统：微电脑平衡调温控制系统
10.冷凝器：不锈钢钎焊板式换热器
11.内箱材质：SUS304优质不锈钢
12.外箱材质：SUS201纱面不锈钢或电解钢板喷塑处理
13.试样限制：本实验设备禁止易爆、易燃、易挥发性物质试样的试验或储存；腐蚀性物质试样的试验或储存；