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水分测定微波技术与近红外技术的比较

阅读：705发布时间：2011-2-22

微波技术与近红外技术的比较

关于测量方法的问题	近红外测量法	微波法
要求对待测试物预测处理吗？	待测物必须被细磨或打得粉碎。	不需要任何处理。物料可以任意状态（如天然状态）测量
待测物水分的哪个方面会被测到?	只有表面水分．它可能与材料的水分（中心水分）有相当大的偏差	产品的整体水分（中心和表面水分）。
表面特征影响测量吗?	是的．	不受表面特性的任何影响。
样品的光学特性的变化影响测量信号吗?	是的，颜色，光密度影响测量信号	不受颜色，碳或反射物（金属颗粒除外）的任何影响。
所测物的温度变化影响测量信号吗?	是的．（大多数情况下）没有说到补偿的方法。	对温度进行测量和补偿而将这个影响校正过来
当所测物的型号变化时，标定曲线如何?	适用如下原则：对每一个不同型号的物料都要有不同的标定曲线，即使只是配方不同。	标定曲线一经记录，就几乎不受材料牌号的影响。因此即使是任意配方的牌号也能测量。
添加剂（如盐或蛋白质，糖等有机物）的变化影响标定曲线吗?	是的，原则上，需要对每一种添加剂作不同的标定曲线。	不，因为该测量方法只对水敏感，所以标定曲线不受添加剂（盐，矿物质。蛋白质，糖等）的任何影响。
当物料改变时需要改变硬件吗?	是的，通常需要换近红外滤光镜。	不。当改变物料时，不需要改变硬件。
需要清洁探头吗？	测量窗必须不断清理，否则就发生测量误差。	一般不需要

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