DS 半球发射率测量仪特点|标配现货可随时发货

重复性：  ± 0.01
操作简单：探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。
快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率。
价格实惠

DS 半球发射率测量仪
AE1/RD1发射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪仅对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1发射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。
把该仪器放在高发射率标准体（近似黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。
AE1测量样品小直径为2.25英寸（5.7cm）。可选附件AE-AD1和AE-AD3探测头，能测量样品的小直径为1.0英寸（2.54cm）。还可以定制探头，测量圆柱形表面和几乎任何几何形状表面。对于小直径圆柱形面样品的测量，可以测量平行放置的多个样品。如需定制测量头，请来电垂询价格！
发射率通过两个步骤获取：
1、把辐射计放在高发射率标准体上，设定RD1来表示发射率；
2、把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。