高低温温度冲击试验箱的用途:
高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的*的一项测试箱
高低温温度冲击试验箱的材质:
1、系统容量:可登入150组程式×1500段,段数可任意分割,程式可自由相互联结。
2、循环设定:可执行9999×999回次数循环,且可再切割出5组独立之部份循环。
3、控制方式:恒温恒湿箱采智能型正逆双向同步输出,内含*之斜率控制逻辑。
4、资料设定:触控式对话框设定模式,操作简易明确,内建目录数据管理系统。
曲线绘制:当温、湿度、时间资料设定完成,可立即转成设定曲线,运转中亦可获取实际运转曲线之绘制。
5、时间讯号:3组时式控制输出接口,搭配10种之时间控制模式,方便执行外部驱动组件启/停之时式规画。
6、终了温度:在完成测试时,可选择执行返回常温之状态,以利测试物取出。
安全检知:15项全功能之系统侦测,确保机台运转安全.并可自动显示故障时间、项目及排除对策。
7、异常追溯:可显示记录故障之历史资料,如过去曾发生故障之原因与发生时间之统计记录。
8、外部保护:独立于主控制器之电子式超温保护装置,可设定受测对象之温度上限保护。
9、通信接口:标准通信接口装置,可与个人计算机(PC)同时联机多机控制及管理。
的型号:
型号:F-TH-60【A~C】内箱35×40×35(W×H×D)㎝
2.型号:F-TH-80【A~C】内箱40×50×40(W×H×D)㎝
3.型号:F-TH-120【A~C】内箱50×60×40(W×H×D)㎝
的参数:
工作室尺寸:2500*4500*2500
温度范围:-40℃~+100℃
湿度范围:30%-98%RH
温度均匀度:≤2℃
温度波动度:高温段≤±0.5℃
低温段:≤±1℃
湿度偏差:+2/-3%RH
升温速率:≥2~3℃/min可调整
降温速率:≤1℃/min可调整
使用环境温度:15℃~35℃
使用环境湿度:不大于85%RH
满足标准:
本产品严格按GB/T16422.2-99的技术参数设计制造.同时符合(GB/T1865-2009、GB/T9344-88、ASTMG155、GB/T16422.2、GB/T2423.24-1995、ISO10SB02/B04、SAEJ2527、SAEJ2412)等相关标准
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