全国E4407B回收，上海E4407B回收

回收仪器就找东莞捷鑫陈R手机/号|二手电子仪器回收
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Keysight E4407B回收~Agilent E4407B回收

*专业销售/回收/维修//计量高频二手仪器!：陈工

陈卫平（）：/彭
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业务在线：742002535      
公司:sally00063.com                                           
地址:广东省东莞市塘厦镇塘厦*工业区

回收/销售/租赁＜网络分析仪＞＜频谱分析仪＞＜音频分析仪＞＜综合测试仪＞＜示波器＞＜万用表＞＜信号发生器＞＜直流电源＞＜LCR电桥＞＜电子负载＞＜频率计＞＜功率计＞等各种进口二手仪器，咨询！
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高价回收仪器
E4407B,E4440A,8720ES，MT8852B 4.0各一台；求购：E4438C  6G一台
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现金回收仪器：
数据定时发生器 TEK DTG5334
                模块 TEKDTGM30
      示波器：TDS3052B 
     直流电压电流电源 ADC R6246
     多功能校准器  FLUKE 5700A
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第 I 条    主要特性与技术指标 
第 II 条    性能
第 III 条    0.4 dB的总体幅度精度
第 IV 条    +16 dBm TOI
第 V 条    -167 dBm DANL，带有内置前置放大器
第 VI 条    1 Hz窄分辨率带宽（可选）
第 VII 条    测量应用软件
第 VIII 条    相噪、噪声系数、GSM/EDGE、cdmaOne等 测量应用软件
第 IX 条    包括功率套件，可进行一键式RF功率测量 详情
第 X 条    特性
第 XI 条    发货迅速、定价合理
第 XII 条    分段扫描，一次扫描32个不连续的范围
第 XIII 条    便携耐用的设备，可在现场提供实验室级的性能
第 XIV 条    5分钟的预热时间，可确保*的测量精度
第 XV 条    描述 
第 XVI 条    ESA-E系列是能适应未来需要的 中性能频谱分析仪解决方案。该系列在测量速度、动态范围、精度和功率分辨能力上，都为类似价位的产品建立了性能标准。它灵活的平台设计使研发、制造和现场服务工程师能自定义产品，以满足特定测试要求，和在需要时用新的特性升级产品。该产品采用单键测量解决方案，并具有易于浏览的用户界面和高速测量的性能，使工程师能把较少的时间用于测试，而把更多的时间用在元
件和产品的设计、制作和查错上。
第 XVII 条    
ESA-E series is able to adapt to the future needs of the neutral energy spectrum analyzer solution. The series in the measurement speed, dynamic range, accuracy and power resolution, are similar to the price of the product set up a performance standard. Its flexible platform design enables the development, manufacturing and field service engineers to customize products to meet specific test requirements, and to upgrade products with new features when needed. The product adopts single measurement solutions and is easy to navigate the user interface and the measurement of high speed performance, so that engineers can take less time for testing, and put more time in components and products design, manufacture and debugging.

ESA-Eシリーズは慣れる必要の未来に性能スペアナソリューション。同シリーズは、測定速度、ダイナミック範囲、精度、出力能力において、すべての価格の製品が性能基準を確立した。これは柔軟なプラットフォーム設計を設計すると研究開発、製造と現場のサービスエンジニアは製品がカスタマイズすることができて、特定のテストの要求を満足して、必要とする時に新たな特性で製品を進級する。ワンタッチ測定解決案を採用し、かつ、容易に閲覧のユーザーインターフェースと高速測定の性能をエンジニアの少ない時間をテストするために、より多くの時間を使って素子や製品の設計、制作やミスに。

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