广泛的测量对象
半导体元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。
介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。
半导体材料：半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。
液晶材料：液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。
多种元件、材料特性测量能力
多参数混合显示功能
多参数同时显示可满足复杂元件各种分布参数的全面观察与评估要求，而不必反复切换测量参数。
电感L和其直流电阻DCR可以同时测量显示，显著提高电感测量效率。
揭示电感器件的多种特性
使用内部/外部直流偏置，结合各种扫描测试功能，可以地分析磁性材料、电感器件的性能。
通过偏置电流叠加测试功能，可以测量高频电感器件、通讯变压器，滤波器的小电流叠加性能。使用外部电流叠加装置，可使偏置电流达40A以分析高功率、大电流电感器件。
的陶瓷电容测量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征，同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。
仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度，六位分辨率和自动电平控制（ALC）功能等，中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。
液晶单元的电容特性测量
电容－电压（C－Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法，常规仪器测量液晶单元的C－Vac特性遇到一个问题是zui大测试电压不够。
使用扩展测量选件可提供分辨率为1%及zui高达20Vms的可编程测试信号电平，使它能在条件下进行液晶材料的电容特性测量。
半导体材料和元件的测量
进行MOS型半导体制造工艺评价时，需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数，这些可从C－Vdc特性的测量结果推导出来。
通过提供的直流源，结合各种扫描功能，可以方便地完成C-VDC特性的测量。
为了测试晶圆上的半导体器件，需要延伸电缆和探头，仪器的1m/2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至zui小。
各种二极管、三极管、MOS管的分布电容也是本仪器的测试内容。