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Jenoptik开发了新一代光学测量系统，使生产过程中的质量控制更容易。

Jenoptik OPTICLINE测量系统

多年来，Opticline系列测量系统已成为光学轴测量技术的基准。它们具有令人印象深刻的高测量速度，精确度和易用性。 2015年，推出了新一代产品，提供了多项技术创新和优化。我们的系统可以在生产中实现高效透明的质量控制

明显更接近

Opticline测量系统专门设计用于恶劣的生产环境。它们非常坚固，不受外部影响。它们还提供集成的自我监控功能，确保大的系统可用性。

我们的光学系统可以对您的工件进行以下测量：

尺寸测量（长度和直径，半径和角度）

螺纹尺寸（尺寸，形状）

形状测量（直线度，圆度，圆柱度）

型材形式（自由形式，公差范围，凸轮形状）

位置测量（径向跳动和轴向跳动，直线度，对称性和平行度，同心度和同轴度）

明显更快

Opticline系统以全自动光学和非接触式工艺测试您的工件，并在极短的时间内分析复杂工件的轮廓。由于它们在实际生产过程中的使用，它们不仅可以大限度地减少操作员路线，还可以降低成本，浪费和错误来源。这可以节省您的成本，时间和资源。

我们的测量和评估软件可帮助您完成测量任务。它易于理解和直观使用。它可以快速调整到定义的工作流程，甚至是复杂的测试特征。

高度的能力和超过25年的经验

光学测量系统融合了我们在工业计量领域的广泛专业知识和*经验。有超过2,500台Opticline测量系统使用，并取得了成功的记录。

咨询我们的专家，找到符合您测量任务的系统。我们根据需要为您的质量控制开发定制设计。

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