非饱和型高压加速寿命试验箱(HAST)是一种通过模拟高温、高压、高湿的非饱和蒸汽环境,加速产品老化并暴露潜在缺陷的可靠性测试设备。其核心价值在于通过综合失效分析,快速识别产品在材料、工艺、设计等环节的薄弱点,广泛应用于半导体、汽车电子、新能源等行业的研发与质量控制环节
产品概述与核心功能
技术原理
HAST通过非饱和蒸汽(湿度70%~100%RH可调)结合高温(100℃~155℃)和高压(0.2~3.5 kg/cm²)环境,加速水分渗透、氧化、腐蚀等失效过程,模拟产品长期使用后的老化状态。
核心功能
加速失效分析:将自然老化数千小时的测试缩短至数十小时,快速暴露材料分层、焊点开裂、密封失效等问题。
失效模式分类:.
早期失效:工艺缺陷、材料不良(如封装气密性不足);
随机失效:外部应力突变或误用(如电路短路);
退化失效:长期氧化、疲劳老化(如金属腐蚀、高分子材料降解)
多参数动态控制:支持温度、湿度、压力独立调节,可模拟循环变化(如双85、双95测试),适配复杂工况分析。
技术优势与创新设计
精准控制与稳定性
温湿度控制:温度波动≤±0.5℃,湿度波动≤±2.5%RH,确保测试一致性;
压力调节:支持快速升压(约45分钟达到3.5 kg/cm²),满足严苛测试需求。
安全与可靠性
多重保护:超温/超压自动泄压、缺水断电保护、门锁反压防护等,避免设备损坏与操作风险;
结构优化:圆弧形内胆设计(SUS 316不锈钢材质),防止结露滴水,减少蒸汽对样品的直接冲击。
智能化与扩展性
数据管理:支持USB导出温湿度曲线、压力变化记录,便于后续分析;
定制化功能:可选配偏压端子(8~55条)、干湿球/饱和模式切换,适配JESD22-A110等国际标准